一种半导体纳米材料热输运性质测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010404230.X

申请日：

2020-05-13

公开(公告)号：

CN111555843A

公开(公告)日：

2020-08-18

发明(设计)人：

包本刚孔永红朱湘萍

申请人：

申请人地址：

425100 湖南省永州市零陵区杨梓塘路130号

IPC主分类号：

H04L100

IPC分类号：

H04L500 H04W7610 G08C1702 G01N2520

代理机构：

成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229

代理人：

李蕊

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-08-18	公开	公开
2020-09-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04L 1/00 申请日:20200513
2021-07-27	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于半导体纳米材料热性能测试装置 [P].

赖志强 .

中国专利 :CN112946010B ,2021-06-11

[2]

半导体纳米材料 [P].

D·莫卡塔 ;

A·霍尔茨曼 ;

N·利迪希 ;

Y·尼森霍尔茨 .

中国专利 :CN110352229A ,2019-10-18

[3]

一种半导体材料测试系统 [P].

张道华 ;

崔新春 ;

万玉喜 ;

胡浩林 ;

黄国华 ;

曾威 .

中国专利 :CN223122868U ,2025-07-18

[4]

半导体材料热电性能测试系统 [P].

陈刚 ;

裴健 ;

周楠 ;

刘璞生 ;

陆冬青 .

中国专利 :CN101122627B ,2008-02-13

[5]

一种用于半导体材料磁输运测试的样品杆 [P].

俞国林 ;

刘新智 ;

敬承斌 ;

孙雷 ;

褚君浩 ;

魏来明 ;

周远明 ;

高矿红 ;

林铁 .

中国专利 :CN202305778U ,2012-07-04

[6]

无序工程半导体纳米材料制备系统 [P].

张晓军 ;

刘雷 .

中国专利 :CN109609915B ,2019-04-12

[7]

半导体测试装置、半导体测试系统以及半导体测试方法 [P].

陈颢 ;

林鸿志 ;

王敏哲 .

中国专利 :CN109425810A ,2019-03-05

[8]

半导体测试系统 [P].

伊东良真 ;

并木克彦 .

中国专利 :CN100476446C ,2006-09-20

[9]

半导体纳米材料和器件 [P].

刘文祥 .

中国专利 :CN101734609A ,2010-06-16

[10]

半导体材料微区应力测试系统 [P].

高寒松 ;

陈涌海 ;

张宏毅 ;

刘雨 .

中国专利 :CN103308224A ,2013-09-18

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