一种半导体元件自动上料测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110713201.6

申请日：

2021-06-25

公开(公告)号：

CN113401651A

公开(公告)日：

2021-09-17

发明(设计)人：

单忠频陈树钊周圣军缪来虎薛克瑞胡红坡康茂

申请人：

申请人地址：

528200 广东省佛山市南海区桂城街道深海路17号瀚天科技城A区8号楼十二楼1206单元

IPC主分类号：

B65G4790

IPC分类号：

B65G4752

代理机构：

深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268

代理人：

卢劲亮

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-09-17	公开	公开
2021-10-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B65G 47/90 申请日:20210625

共 50 条

[1]

一种半导体元件自动上料测试装置 [P].

单忠频 ;

陈树钊 ;

周圣军 ;

缪来虎 ;

薛克瑞 ;

胡红坡 ;

康茂 .

中国专利 :CN215923683U ,2022-03-01

[2]

半导体元件测试装置 [P].

伊藤明彦 ;

小林义仁 .

中国专利 :CN1083985C ,1998-11-11

[3]

半导体元件测试装置 [P].

许振荣 ;

曾昭晟 .

中国专利 :CN102903650B ,2013-01-30

[4]

半导体元件测试装置 [P].

邱显羣 ;

钱淼 ;

王韦勋 .

中国专利 :CN220751793U ,2024-04-09

[5]

一种半导体元件测试装置 [P].

李树新 ;

何松 ;

邱国志 ;

胡鹏飞 .

中国专利 :CN220961729U ,2024-05-14

[6]

半导体元件长时间测试装置 [P].

单忠频 ;

康茂 ;

周圣军 ;

缪来虎 ;

薛克瑞 ;

胡红坡 ;

陈树钊 .

中国专利 :CN215236022U ,2021-12-21

[7]

半导体元件的测试装置 [P].

陈石矶 .

中国专利 :CN101614784A ,2009-12-30

[8]

半导体元件影像测试装置 [P].

蔡秉谚 ;

宋柏宽 .

中国专利 :CN110044914A ,2019-07-23

[9]

半导体元件影像测试装置 [P].

蔡秉谚 ;

宋柏宽 .

中国专利 :CN207779924U ,2018-08-28

[10]

半导体测试装置与测试半导体元件的方法 [P].

邵志杰 ;

钟堂轩 ;

黄思嘉 ;

曾焕棋 ;

李建昌 ;

萧玉兰 .

中国专利 :CN102901847A ,2013-01-30

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