半导体衬底及具有半导体衬底的半导体封装结构

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201711337277.3
申请日
2015-03-19
公开(公告)号
CN107994002A
公开(公告)日
2018-05-04
发明(设计)人
廖国成 陈家庆 丁一权
申请人
申请人地址
中国台湾高雄市楠梓加工区经三路26号
IPC主分类号
H01L23488
IPC分类号
代理机构
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287
代理人
蕭輔寬
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[21]
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[23]
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[24]
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[25]
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[29]
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[30]
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