一种半导体器件测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201922031516.3

申请日：

2019-11-21

公开(公告)号：

CN211348526U

公开(公告)日：

2020-08-25

发明(设计)人：

韩正王刚朱国军唐德平

申请人：

申请人地址：

230088 安徽省合肥市高新区望江西路4715号沪浦工业园2栋

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124

代理人：

丁瑞瑞

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-08-25	授权	授权
2022-08-02	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 31/26 变更事项:专利权人变更前:合肥科威尔电源系统股份有限公司变更后:科威尔技术股份有限公司变更事项:地址变更前:230088 安徽省合肥市高新区大龙山路8号变更后:230088 安徽省合肥市高新区大龙山路8号
2021-01-01	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 31/26 变更事项:专利权人变更前:合肥科威尔电源系统股份有限公司变更后:合肥科威尔电源系统股份有限公司变更事项:地址变更前:230088 安徽省合肥市高新区望江西路4715号沪浦工业园2栋变更后:230088 安徽省合肥市高新区大龙山路8号

共 50 条

[1]

一种半导体器件测试系统及其测试方法 [P].

韩正 ;

王刚 ;

朱国军 ;

唐德平 .

中国专利 :CN110954803A ,2020-04-03

[2]

半导体器件测试系统 [P].

蒋成明 ;

雷仕建 ;

刘福红 ;

何强 ;

王叙夫 ;

王运 .

中国专利 :CN212364485U ,2021-01-15

[3]

半导体器件测试系统及方法 [P].

蒋成明 ;

雷仕建 ;

刘福红 ;

何强 ;

王叙夫 ;

王运 .

中国专利 :CN111537857A ,2020-08-14

[4]

半导体器件测试系统 [P].

刘冲 ;

李洁 ;

阚劲松 .

中国专利 :CN303957957S ,2016-12-07

[5]

半导体器件测试系统 [P].

张庆勋 ;

吴世京 ;

李应尚 .

中国专利 :CN101932943B ,2010-12-29

[6]

半导体器件测试装置和半导体器件测试系统 [P].

吴靖宇 ;

岳焕慧 ;

刘怀超 .

中国专利 :CN220568889U ,2024-03-08

[7]

用于测试半导体器件的方法和半导体器件测试系统 [P].

K·B·埃令顿 ;

K·J·迪克森 .

中国专利 :CN101889337A ,2010-11-17

[8]

一种半导体器件及测试系统 [P].

梅万元 ;

张国栋 ;

谢雨龙 ;

龙欣江 ;

陈文军 .

中国专利 :CN216354196U ,2022-04-19

[9]

半导体器件模组测试系统 [P].

陈杰 ;

周德祥 ;

孙志强 ;

杨建 ;

杜韦慷 .

中国专利 :CN217112602U ,2022-08-02

[10]

半导体器件测试系统脉冲大电流幅度校准装置 [P].

刘冲 ;

于利红 ;

江莹 ;

项道才 .

中国专利 :CN202210146U ,2012-05-02

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