一种针对FPGA芯片的通用测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201020241716.8

申请日：

2010-06-29

公开(公告)号：

CN201698002U

公开(公告)日：

2011-01-05

发明(设计)人：

李杰冯建科张东

申请人：

申请人地址：

100088 北京市北三环中路31号

IPC主分类号：

G01R313185

IPC分类号：

代理机构：

北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100

代理人：

陈曦

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-01-05	授权	授权
2020-07-24	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G01R 31/3185 申请日:20100629 授权公告日:20110105

共 50 条

[1]

基于FPGA芯片的通用I/O测试装置 [P].

吴彬 ;

王永超 ;

张兴堂 ;

夏朋浩 ;

张吉远 ;

孙成宽 ;

王文俊 .

中国专利 :CN209247916U ,2019-08-13

[2]

一种裸芯片通用测试装置 [P].

陈春雷 .

中国专利 :CN220855091U ,2024-04-26

[3]

eMCP芯片的测试装置 [P].

孙文琪 .

中国专利 :CN222337933U ,2025-01-10

[4]

一种基于FPGA的汽车电子控制器通用测试装置 [P].

何远玉 ;

杨勇 ;

秦赛锋 .

中国专利 :CN222145425U ,2024-12-10

[5]

一种芯片测试装置 [P].

李明 ;

郭晓旭 ;

樊晓华 ;

边海波 .

中国专利 :CN217360170U ,2022-09-02

[6]

一种fpga芯片模块测试装置 [P].

李世杰 .

中国专利 :CN213181912U ,2021-05-11

[7]

一种用于VXI总线数字测试系统的老化模块 [P].

李杰 ;

张东 ;

蒋常斌 .

中国专利 :CN202339398U ,2012-07-18

[8]

一种用于VXI总线数字测试系统的校准模块 [P].

李杰 ;

张东 ;

马新国 .

中国专利 :CN202330684U ,2012-07-11

[9]

芯片的通用测试装置和芯片测试系统 [P].

张焱 ;

温江波 ;

陈建宇 ;

曹生斌 ;

曹志 ;

马程 ;

闫斌 ;

张海麟 .

中国专利 :CN119028418A ,2024-11-26

[10]

一种用于测试LPDDR芯片的测试装置 [P].

赖振楠 .

中国专利 :CN217405115U ,2022-09-09

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