一种fpga芯片模块测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202022428383.6

申请日：

2020-10-28

公开(公告)号：

CN213181912U

公开(公告)日：

2021-05-11

发明(设计)人：

李世杰

申请人：

申请人地址：

200120 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区芳春路400号1幢3层

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

北京中索知识产权代理有限公司 11640

代理人：

张莹

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-05-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片模块测试装置 [P].

李亚飞 ;

唐川 ;

张鸿 .

中国专利 :CN215415750U ,2022-01-04

[2]

一种芯片测试装置 [P].

陆明 ;

花苗 .

中国专利 :CN220854919U ,2024-04-26

[3]

一种芯片测试装置 [P].

刘强 ;

王宇诚 .

中国专利 :CN222646890U ,2025-03-21

[4]

一种芯片测试装置 [P].

姜莉 ;

姜靖 ;

营营 ;

陈高华 ;

陈庆国 ;

文斌 ;

陆斌炎 ;

潘先文 ;

张亚男 .

中国专利 :CN207689526U ,2018-08-03

[5]

一种针对FPGA芯片的通用测试装置 [P].

李杰 ;

冯建科 ;

张东 .

中国专利 :CN201698002U ,2011-01-05

[6]

一种电子雷管模块测试装置 [P].

屠涛 ;

李孝成 ;

项宇 .

中国专利 :CN223460941U ,2025-10-21

[7]

一种基于FPGA的测试装置 [P].

闫冯军 ;

宋小弟 ;

李昂 ;

程小军 .

中国专利 :CN210181171U ,2020-03-24

[8]

芯片测试装置 [P].

王伟君 ;

刘寅 ;

李步民 .

中国专利 :CN223401007U ,2025-09-30

[9]

芯片测试装置 [P].

请求不公布姓名 ;

黄学楼 ;

陈东林 ;

郭航旗 ;

夏嵩 .

中国专利 :CN223155145U ,2025-07-25

[10]

一种芯片批量测试装置 [P].

王成 ;

王超 .

中国专利 :CN222461501U ,2025-02-11

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