一种芯片模块测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121402701.X

申请日：

2021-06-23

公开(公告)号：

CN215415750U

公开(公告)日：

2022-01-04

发明(设计)人：

李亚飞唐川张鸿

申请人：

申请人地址：

610100 四川省成都市高新区（西区）天虹路5号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R102 G01R104

代理机构：

成都三诚知识产权代理事务所(普通合伙) 51251

代理人：

饶振浪

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-04	授权	授权

共 50 条

[1]

一种fpga芯片模块测试装置 [P].

李世杰 .

中国专利 :CN213181912U ,2021-05-11

[2]

一种芯片测试装置 [P].

余永庆 ;

唐章海 ;

王伟 .

中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18

[3]

一种芯片测试装置 [P].

黄光敏 ;

肖慧敏 ;

吴丽 .

中国专利 :CN220289677U ,2024-01-02

[4]

一种芯片测试装置 [P].

王永安 .

中国专利 :CN207937558U ,2018-10-02

[5]

芯片测试装置 [P].

王伟君 ;

刘寅 ;

李步民 .

中国专利 :CN223401007U ,2025-09-30

[6]

一种芯片用测试装置 [P].

刘航兵 ;

卓建超 ;

万玉飞 ;

刘小恒 .

中国专利 :CN212483776U ,2021-02-05

[7]

一种射频芯片测试装置 [P].

杨振声 .

中国专利 :CN216248234U ,2022-04-08

[8]

一种耗材芯片测试装置 [P].

卓东君 .

中国专利 :CN223347010U ,2025-09-16

[9]

一种IC芯片测试装置 [P].

刘乃松 ;

黄文治 ;

李孝文 ;

罗根生 .

中国专利 :CN221926530U ,2024-10-29

[10]

一种LED芯片测试装置 [P].

蒙旻 ;

朱大江 ;

李平 .

中国专利 :CN210876341U ,2020-06-30

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