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晶圆状态检测方法及晶圆状态检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202311315975.9
申请日
:
2023-10-11
公开(公告)号
:
CN117537776A
公开(公告)日
:
2024-02-09
发明(设计)人
:
杨森元
李宁宁
邓博雅
吕维迪
赵佳强
王晓尉
王二朋
于佳豪
申请人
:
北京京仪自动化装备技术股份有限公司
申请人地址
:
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区凉水河二街8号院14楼A座
IPC主分类号
:
G01C9/00
IPC分类号
:
H01L21/66
H01L21/67
G01B11/00
G01B11/06
代理机构
:
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人
:
李梦晨
法律状态
:
公开
国省代码
:
安徽省 宣城市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-02-09
公开
公开
2024-03-01
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01C 9/00申请日:20231011
共 50 条
[1]
晶圆水平刷洗装置、晶圆检测机构及晶圆状态检测方法
[P].
曹佳丰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
华海清科股份有限公司
华海清科股份有限公司
曹佳丰
;
马旭
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机构:
华海清科股份有限公司
华海清科股份有限公司
马旭
;
靳凯强
论文数:
0
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0
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0
机构:
华海清科股份有限公司
华海清科股份有限公司
靳凯强
.
中国专利
:CN119314911A
,2025-01-14
[2]
晶圆盒内晶圆分布状态检测装置及检测方法
[P].
王金
论文数:
0
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0
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机构:
盛吉盛半导体科技(无锡)有限公司
盛吉盛半导体科技(无锡)有限公司
王金
;
臧宇
论文数:
0
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0
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机构:
盛吉盛半导体科技(无锡)有限公司
盛吉盛半导体科技(无锡)有限公司
臧宇
;
吴金马
论文数:
0
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0
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机构:
盛吉盛半导体科技(无锡)有限公司
盛吉盛半导体科技(无锡)有限公司
吴金马
.
中国专利
:CN115166848B
,2024-11-26
[3]
晶圆盒内晶圆放置状态检测方法以及晶圆状态检测系统
[P].
高旭
论文数:
0
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0
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0
机构:
歌尔光学科技有限公司
歌尔光学科技有限公司
高旭
.
中国专利
:CN120015660A
,2025-05-16
[4]
晶圆状态检测方法、系统、存储介质及检测装置
[P].
张胜森
论文数:
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张胜森
;
鲍伟成
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鲍伟成
;
薛增辉
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薛增辉
;
葛敬昌
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0
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葛敬昌
;
王文广
论文数:
0
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0
王文广
;
叶莹
论文数:
0
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0
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0
叶莹
.
中国专利
:CN115083942B
,2022-09-20
[5]
晶圆状态在线识别检测方法、装置及系统
[P].
刘世昌
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0
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刘世昌
;
邹风山
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0
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邹风山
;
李崇
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李崇
;
栾显晔
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栾显晔
;
陈晓超
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陈晓超
;
刘新
论文数:
0
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刘新
.
中国专利
:CN113053773A
,2021-06-29
[6]
一种晶圆状态检测方法及装置
[P].
李刚
论文数:
0
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0
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机构:
江苏亚电科技股份有限公司
江苏亚电科技股份有限公司
李刚
;
霍召军
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机构:
江苏亚电科技股份有限公司
江苏亚电科技股份有限公司
霍召军
;
刘青松
论文数:
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0
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0
机构:
江苏亚电科技股份有限公司
江苏亚电科技股份有限公司
刘青松
.
中国专利
:CN119008439A
,2024-11-22
[7]
一种晶圆状态检测方法及装置
[P].
李刚
论文数:
0
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0
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机构:
江苏亚电科技股份有限公司
江苏亚电科技股份有限公司
李刚
;
霍召军
论文数:
0
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机构:
江苏亚电科技股份有限公司
江苏亚电科技股份有限公司
霍召军
;
刘青松
论文数:
0
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0
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0
机构:
江苏亚电科技股份有限公司
江苏亚电科技股份有限公司
刘青松
.
中国专利
:CN118049931A
,2024-05-17
[8]
一种晶圆状态检测装置
[P].
施钦天
论文数:
0
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0
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机构:
江苏启微半导体设备有限公司
江苏启微半导体设备有限公司
施钦天
;
屠国强
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0
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0
机构:
江苏启微半导体设备有限公司
江苏启微半导体设备有限公司
屠国强
;
徐铭
论文数:
0
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机构:
江苏启微半导体设备有限公司
江苏启微半导体设备有限公司
徐铭
;
刘志鹏
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机构:
江苏启微半导体设备有限公司
江苏启微半导体设备有限公司
刘志鹏
;
陆赛浩
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0
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机构:
江苏启微半导体设备有限公司
江苏启微半导体设备有限公司
陆赛浩
;
宋莹瑛
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机构:
江苏启微半导体设备有限公司
江苏启微半导体设备有限公司
宋莹瑛
.
中国专利
:CN223414034U
,2025-10-03
[9]
晶圆盒内晶圆摆放状态的检测方法及检测系统
[P].
周毓婷
论文数:
0
引用数:
0
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0
周毓婷
.
中国专利
:CN114740017A
,2022-07-12
[10]
晶圆的检测装置及晶圆的检测方法
[P].
苏旭文
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0
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0
机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
苏旭文
;
戎淇舰
论文数:
0
引用数:
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机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
戎淇舰
;
吕天爽
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机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
吕天爽
;
蒙亮亮
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0
机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
蒙亮亮
.
中国专利
:CN120933184A
,2025-11-11
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