一种集成电路测试针床

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011318127.X
申请日
2020-11-23
公开(公告)号
CN112363048B
公开(公告)日
2024-01-23
发明(设计)人
李雨馨 朱伟光
申请人
优百顺集团有限公司
申请人地址
310056 浙江省杭州市滨江区长河街道滨康路480号3幢1楼130室
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
代理机构
北京鼎德宝专利代理事务所(特殊普通合伙) 11823
代理人
田伟
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]
一种集成电路测试针床 [P]. 
李雨馨 ;
朱伟光 .
中国专利 :CN112363048A ,2021-02-12
[2]
一种集成电路测试针床 [P]. 
李娜 .
中国专利 :CN215067093U ,2021-12-07
[3]
一种集成电路测试用针床 [P]. 
王昕宇 ;
董羡 .
中国专利 :CN119805167A ,2025-04-11
[4]
一种集成电路测试编带机 [P]. 
王羽 ;
蔡可森 ;
樊晓龙 ;
庄后义 ;
魏旭龙 .
中国专利 :CN120942640A ,2025-11-14
[5]
集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P]. 
张晓磊 .
中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01
[6]
一种集成电路和集成电路的测试方法 [P]. 
何军 ;
其他发明人请求不公开姓名 .
中国专利 :CN106959411A ,2017-07-18
[7]
一种用于测试集成电路的电路架构及集成电路测试方法 [P]. 
丁盛峰 ;
李志浩 ;
阮辉 .
中国专利 :CN118112397A ,2024-05-31
[8]
一种集成电路多工位测试平台及集成电路测试方法 [P]. 
陆敏敏 .
中国专利 :CN113092985A ,2021-07-09
[9]
一种集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P]. 
周学志 ;
谢清冬 .
中国专利 :CN207067178U ,2018-03-02
[10]
集成电路测试座及集成电路测试装置 [P]. 
程振 ;
李志雄 ;
刘旭 ;
王平 ;
燕祖德 .
中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08