射频芯片三温手动测试箱

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311620054.3

申请日：

2023-11-30

公开(公告)号：

CN117607661A

公开(公告)日：

2024-02-27

发明(设计)人：

顾凯王东永刘国举

申请人：

苏州索莱能智能科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市太仓市璜泾镇关湟塘路10号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

苏州言思嘉信专利代理事务所(普通合伙) 32385

代理人：

黄山

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231130
2024-02-27	公开	公开

共 50 条

[1]

一种改良型射频芯片三温手动测试设备 [P].

王国华 ;

李泽林 .

中国专利 :CN221899211U ,2024-10-25

[2]

一种射频芯片三温测试设备 [P].

顾凯 ;

王东永 ;

刘国举 .

中国专利 :CN117741389A ,2024-03-22

[3]

射频芯片测试电磁屏蔽箱 [P].

胡晓蔚 ;

何俊 ;

孙中良 ;

石帅涛 .

中国专利 :CN119335231A ,2025-01-21

[4]

射频芯片测试电磁屏蔽箱 [P].

胡晓蔚 ;

何俊 ;

孙中良 ;

石帅涛 .

中国专利 :CN119335231B ,2025-04-15

[5]

一种手动测试芯片的同测三温腔体 [P].

龚高鹏 ;

王思芳 ;

王凌 ;

邓亿龙 ;

盖希林 ;

唐顺民 .

中国专利 :CN117434427A ,2024-01-23

[6]

一种手动测试芯片的同测三温腔体 [P].

龚高鹏 ;

王思芳 ;

王凌 ;

邓亿龙 ;

盖希林 ;

唐顺民 .

中国专利 :CN221224941U ,2024-06-25

[7]

一种三温测试设备及基于定位的射频芯片测试方法 [P].

顾凯 ;

王东永 .

中国专利 :CN120178010B ,2025-09-02

[8]

一种三温测试设备及基于定位的射频芯片测试方法 [P].

顾凯 ;

王东永 .

中国专利 :CN120178010A ,2025-06-20

[9]

手动测试芯片机 [P].

陈奉昌 .

中国专利 :CN3193454D ,2001-07-11

[10]

射频芯片测试夹具 [P].

王文娟 ;

沙长涛 ;

阚劲松 ;

王酣 ;

赵昭 ;

邢荣欣 .

中国专利 :CN206684193U ,2017-11-28

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