一种手动测试芯片的同测三温腔体

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311600502.3

申请日：

2023-11-24

公开(公告)号：

CN117434427A

公开(公告)日：

2024-01-23

发明(设计)人：

龚高鹏王思芳王凌邓亿龙盖希林唐顺民

申请人：

沛顿科技（深圳）有限公司

申请人地址：

518035 广东省深圳市福田区彩田路1号厂房第一层2号、第四层南区

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04 G01R1/02

代理机构：

广东普润知识产权代理有限公司 44804

代理人：

欧志明

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-09	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231124
2024-01-23	公开	公开

共 50 条

[1]

一种手动测试芯片的同测三温腔体 [P].

龚高鹏 ;

王思芳 ;

王凌 ;

邓亿龙 ;

盖希林 ;

唐顺民 .

中国专利 :CN221224941U ,2024-06-25

[2]

射频芯片三温手动测试箱 [P].

顾凯 ;

王东永 ;

刘国举 .

中国专利 :CN117607661A ,2024-02-27

[3]

一种适用于芯片开发测试的手动测试插座 [P].

薛宗敏 ;

高向东 .

中国专利 :CN222838095U ,2025-05-06

[4]

一种单颗芯片手动测试治具 [P].

李富彬 ;

施亮 ;

付艳波 .

中国专利 :CN216051814U ,2022-03-15

[5]

一种手动晶圆芯片测试装置 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN218099476U ,2022-12-20

[6]

一种用于芯片手动测试的快速升降承接台 [P].

马荣花 .

中国专利 :CN213275671U ,2021-05-25

[7]

一种改进后的手动测架 [P].

黄克军 .

中国专利 :CN205982485U ,2017-02-22

[8]

一种芯片的测试系统 [P].

杨卓凯 ;

胡华文 ;

陈建强 ;

王嘉星 .

中国专利 :CN119310443A ,2025-01-14

[9]

一种芯片的测试座 [P].

史赛 ;

杨宇靖 ;

曹振军 .

中国专利 :CN208921749U ,2019-05-31

[10]

一种芯片的测试系统 [P].

杨卓凯 ;

胡华文 ;

陈建强 ;

王嘉星 .

中国专利 :CN119310443B ,2025-04-11

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