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一种芯片的测试座
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201821632659.9
申请日
:
2018-10-09
公开(公告)号
:
CN208921749U
公开(公告)日
:
2019-05-31
发明(设计)人
:
史赛
杨宇靖
曹振军
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市苏州工业园区港田路青丘街青丘巷8号
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
G01R1067
代理机构
:
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
:
胡彬
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-05-31
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试座
[P].
吴志明
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴志明
.
中国专利
:CN211478392U
,2020-09-11
[2]
一种芯片测试座
[P].
张彤
论文数:
0
引用数:
0
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0
张彤
.
中国专利
:CN216117715U
,2022-03-22
[3]
一种芯片测试座
[P].
宁丽娟
论文数:
0
引用数:
0
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0
宁丽娟
.
中国专利
:CN215005521U
,2021-12-03
[4]
芯片测试座
[P].
张勇文
论文数:
0
引用数:
0
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0
张勇文
;
袁小云
论文数:
0
引用数:
0
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0
袁小云
.
中国专利
:CN213398670U
,2021-06-08
[5]
一种芯片测试用下压测试座
[P].
吴炜奇
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴炜奇
.
中国专利
:CN217931942U
,2022-11-29
[6]
一种芯片量产测试用测试座
[P].
吴凌虹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海月芯半导体科技有限责任公司
上海月芯半导体科技有限责任公司
吴凌虹
.
中国专利
:CN220277654U
,2024-01-02
[7]
一种便于拆卸的芯片测试座
[P].
朴文杰
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州奥金斯电子有限公司
苏州奥金斯电子有限公司
朴文杰
;
李雷
论文数:
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0
机构:
苏州奥金斯电子有限公司
苏州奥金斯电子有限公司
李雷
;
李吉
论文数:
0
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0
机构:
苏州奥金斯电子有限公司
苏州奥金斯电子有限公司
李吉
.
中国专利
:CN223679211U
,2025-12-16
[8]
一种半导体芯片测试座
[P].
陈睿韬
论文数:
0
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0
机构:
扬州扬杰电子科技股份有限公司
扬州扬杰电子科技股份有限公司
陈睿韬
;
王勇
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机构:
扬州扬杰电子科技股份有限公司
扬州扬杰电子科技股份有限公司
王勇
;
刘兰芳
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0
机构:
扬州扬杰电子科技股份有限公司
扬州扬杰电子科技股份有限公司
刘兰芳
;
袁振东
论文数:
0
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0
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0
机构:
扬州扬杰电子科技股份有限公司
扬州扬杰电子科技股份有限公司
袁振东
;
陈明
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机构:
扬州扬杰电子科技股份有限公司
扬州扬杰电子科技股份有限公司
陈明
;
尹志坚
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机构:
扬州扬杰电子科技股份有限公司
扬州扬杰电子科技股份有限公司
尹志坚
;
吴燚
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机构:
扬州扬杰电子科技股份有限公司
扬州扬杰电子科技股份有限公司
吴燚
;
王标
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0
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机构:
扬州扬杰电子科技股份有限公司
扬州扬杰电子科技股份有限公司
王标
;
王毅
论文数:
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0
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机构:
扬州扬杰电子科技股份有限公司
扬州扬杰电子科技股份有限公司
王毅
.
中国专利
:CN220419389U
,2024-01-30
[9]
一种多芯片开尔文测试座
[P].
吴志明
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴志明
.
中国专利
:CN211478546U
,2020-09-11
[10]
一种雷达感应芯片测试座
[P].
马世崇
论文数:
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0
机构:
宁波市崇芝电子科技有限公司
宁波市崇芝电子科技有限公司
马世崇
.
中国专利
:CN223022189U
,2025-06-24
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