一种芯片的测试座

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201821632659.9
申请日
2018-10-09
公开(公告)号
CN208921749U
公开(公告)日
2019-05-31
发明(设计)人
史赛 杨宇靖 曹振军
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市苏州工业园区港田路青丘街青丘巷8号
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R1067
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
胡彬
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种芯片测试座 [P]. 
吴志明 .
中国专利 :CN211478392U ,2020-09-11
[2]
一种芯片测试座 [P]. 
张彤 .
中国专利 :CN216117715U ,2022-03-22
[3]
一种芯片测试座 [P]. 
宁丽娟 .
中国专利 :CN215005521U ,2021-12-03
[4]
芯片测试座 [P]. 
张勇文 ;
袁小云 .
中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08
[5]
一种芯片测试用下压测试座 [P]. 
吴炜奇 .
中国专利 :CN217931942U ,2022-11-29
[6]
一种芯片量产测试用测试座 [P]. 
吴凌虹 .
中国专利 :CN220277654U ,2024-01-02
[7]
一种便于拆卸的芯片测试座 [P]. 
朴文杰 ;
李雷 ;
李吉 .
中国专利 :CN223679211U ,2025-12-16
[8]
一种半导体芯片测试座 [P]. 
陈睿韬 ;
王勇 ;
刘兰芳 ;
袁振东 ;
陈明 ;
尹志坚 ;
吴燚 ;
王标 ;
王毅 .
中国专利 :CN220419389U ,2024-01-30
[9]
一种多芯片开尔文测试座 [P]. 
吴志明 .
中国专利 :CN211478546U ,2020-09-11
[10]
一种雷达感应芯片测试座 [P]. 
马世崇 .
中国专利 :CN223022189U ,2025-06-24