一种雷达感应芯片测试座

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421864947.2

申请日：

2024-08-02

公开(公告)号：

CN223022189U

公开(公告)日：

2025-06-24

发明(设计)人：

马世崇

申请人：

宁波市崇芝电子科技有限公司

申请人地址：

315000 浙江省宁波市奉化区西坞街道南路96号

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28 G01S7/40

代理机构：

宁波远晟专利代理事务所(普通合伙) 33493

代理人：

何文虎

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片测试座 [P].

宁丽娟 .

中国专利 :CN215005521U ,2021-12-03

[2]

芯片测试座 [P].

张勇文 ;

袁小云 .

中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08

[3]

一种芯片的测试座 [P].

史赛 ;

杨宇靖 ;

曹振军 .

中国专利 :CN208921749U ,2019-05-31

[4]

一种芯片测试用下压测试座 [P].

吴炜奇 .

中国专利 :CN217931942U ,2022-11-29

[5]

一种芯片量产测试用测试座 [P].

吴凌虹 .

中国专利 :CN220277654U ,2024-01-02

[6]

一种半导体芯片测试座 [P].

陈睿韬 ;

王勇 ;

刘兰芳 ;

袁振东 ;

陈明 ;

尹志坚 ;

吴燚 ;

王标 ;

王毅 .

中国专利 :CN220419389U ,2024-01-30

[7]

一种多芯片开尔文测试座 [P].

吴志明 .

中国专利 :CN211478546U ,2020-09-11

[8]

一种存储芯片测试座 [P].

洪育铠 ;

洪育铃 .

中国专利 :CN221746875U ,2024-09-20

[9]

一种半导体芯片测试座 [P].

刘磊 ;

侯显能 .

中国专利 :CN220961610U ,2024-05-14

[10]

一种芯片测试座 [P].

杨晓华 ;

石光普 ;

史先映 .

中国专利 :CN221550748U ,2024-08-16

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