手动测试芯片机

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专利类型
外观设计
申请号
CN00329671.7
申请日
2000-09-30
公开(公告)号
CN3193454D
公开(公告)日
2001-07-11
发明(设计)人
陈奉昌
申请人
申请人地址
326000福建省泉州市南安市水头镇居委会1组
IPC主分类号
1004-M0105
IPC分类号
代理机构
珠海市专利事务所
代理人
张静华
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
手动芯片测试座 [P]. 
金英杰 .
中国专利 :CN202471762U ,2012-10-03
[2]
芯片手动测试压具 [P]. 
徐仁军 .
中国专利 :CN301139114D ,2010-02-17
[3]
半导体芯片手动测试治具 [P]. 
陈金荣 .
中国专利 :CN301793643S ,2012-01-11
[4]
射频芯片三温手动测试箱 [P]. 
顾凯 ;
王东永 ;
刘国举 .
中国专利 :CN117607661A ,2024-02-27
[5]
半导体芯片手动测试探针台 [P]. 
李艳霞 ;
李臣友 ;
于国辉 .
中国专利 :CN202183362U ,2012-04-04
[6]
图像传感器芯片手动测试插座 [P]. 
周勇华 ;
王永 ;
仇中燕 .
中国专利 :CN217484451U ,2022-09-23
[7]
芯片产品用手动测试紧固模拟装置 [P]. 
方达 .
中国专利 :CN222506498U ,2025-02-18
[8]
一种单颗芯片手动测试治具 [P]. 
李富彬 ;
施亮 ;
付艳波 .
中国专利 :CN216051814U ,2022-03-15
[9]
一种手动晶圆芯片测试装置 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN218099476U ,2022-12-20
[10]
一种适用于芯片开发测试的手动测试插座 [P]. 
薛宗敏 ;
高向东 .
中国专利 :CN222838095U ,2025-05-06