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一种提高SiC芯片可靠性的封装结构
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202321987868.6
申请日
:
2023-07-27
公开(公告)号
:
CN220358080U
公开(公告)日
:
2024-01-16
发明(设计)人
:
王丕龙
王新强
杨玉珍
申请人
:
青岛佳恩半导体有限公司
申请人地址
:
266109 山东省青岛市城阳区城阳街道长城路89号10号楼7楼713室
IPC主分类号
:
H01L23/367
IPC分类号
:
H01L23/467
H01L23/04
H01L23/10
代理机构
:
青岛匠海舟盈专利代理事务所(普通合伙) 37401
代理人
:
柳彦君
法律状态
:
授权
国省代码
:
山东省 青岛市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-01-16
授权
授权
共 50 条
[1]
一种提高芯片可靠性的封装结构
[P].
张黎
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张黎
;
龙欣江
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龙欣江
;
赖志明
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赖志明
;
陈栋
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陈栋
;
陈锦辉
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陈锦辉
.
中国专利
:CN205122561U
,2016-03-30
[2]
一种提高GaN芯片可靠性的封装结构
[P].
廖弘昌
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廖弘昌
;
钱进
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钱进
;
刘振东
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刘振东
;
田亚南
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田亚南
;
陈晓林
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陈晓林
.
中国专利
:CN216849927U
,2022-06-28
[3]
一种提高焊接可靠性的多芯片堆叠封装结构及封装方法
[P].
范俊
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机构:
宏茂微电子(上海)有限公司
宏茂微电子(上海)有限公司
范俊
;
陈之文
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机构:
宏茂微电子(上海)有限公司
宏茂微电子(上海)有限公司
陈之文
;
宁文果
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宏茂微电子(上海)有限公司
宏茂微电子(上海)有限公司
宁文果
;
邵滋人
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宏茂微电子(上海)有限公司
宏茂微电子(上海)有限公司
邵滋人
;
付永朝
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机构:
宏茂微电子(上海)有限公司
宏茂微电子(上海)有限公司
付永朝
.
中国专利
:CN120221531A
,2025-06-27
[4]
一种高可靠性封装结构
[P].
徐银森
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徐银森
;
陈金炎
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陈金炎
;
刘陈
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刘陈
.
中国专利
:CN217426739U
,2022-09-13
[5]
高可靠性芯片封装结构
[P].
彭兴义
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彭兴义
;
张春尧
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张春尧
;
周建军
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周建军
.
中国专利
:CN206789534U
,2017-12-22
[6]
高可靠性芯片封装结构
[P].
于大全
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于大全
;
李鹏
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李鹏
;
马书英
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马书英
.
中国专利
:CN205984988U
,2017-02-22
[7]
一种提高PoP封装可靠性的封装方法及其封装结构
[P].
范俊
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机构:
宏茂微电子(上海)有限公司
宏茂微电子(上海)有限公司
范俊
;
邵滋人
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机构:
宏茂微电子(上海)有限公司
宏茂微电子(上海)有限公司
邵滋人
;
付永朝
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机构:
宏茂微电子(上海)有限公司
宏茂微电子(上海)有限公司
付永朝
.
中国专利
:CN117650064A
,2024-03-05
[8]
提高封装可靠性的铝垫结构
[P].
马燕春
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马燕春
.
中国专利
:CN203536419U
,2014-04-09
[9]
提高光耦可靠性的封装结构
[P].
沈震强
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沈震强
.
中国专利
:CN204632757U
,2015-09-09
[10]
高可靠性整流芯片的封装结构
[P].
张雄杰
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张雄杰
;
何洪运
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何洪运
;
程琳
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程琳
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中国专利
:CN204464265U
,2015-07-08
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