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芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311640771.2
申请日：
2023-11-30
公开(公告)号：
CN117517732A
公开(公告)日：
2024-02-06
发明(设计)人：
徐永刚
彭瑞
童炜
孙成思
何瀚
王灿
申请人：
成都态坦测试科技有限公司
申请人地址：
610000 四川省成都市高新区合顺路2号2号楼1单元12层1号、2号
IPC主分类号：
G01R1/04
IPC分类号：
G01R31/28
B08B5/02
B08B5/04
代理机构：
深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426
代理人：
隆毅
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-02-06 | 公开 | 公开 |