半导体工艺设备及刻蚀方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110795297.5
申请日
2021-07-14
公开(公告)号
CN113555268B
公开(公告)日
2024-05-17
发明(设计)人
林源为 袁仁志
申请人
北京北方华创微电子装备有限公司
申请人地址
100176 北京市北京经济技术开发区文昌大道8号
IPC主分类号
H01J37/305
IPC分类号
H01J37/32 H01L21/3065 B81C1/00
代理机构
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112
代理人
彭瑞欣;王婷
法律状态
授权
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
半导体工艺设备及刻蚀方法 [P]. 
林源为 ;
袁仁志 .
中国专利 :CN113555268A ,2021-10-26
[2]
半导体刻蚀方法及半导体工艺设备 [P]. 
苏恒毅 ;
徐珂浩 ;
李璇 .
中国专利 :CN119069346A ,2024-12-03
[3]
刻蚀方法及半导体工艺设备 [P]. 
王春 ;
吴鑫 ;
李柏仪 ;
赵羽飞 .
中国专利 :CN117766382A ,2024-03-26
[4]
半导体工艺设备以及刻蚀方法 [P]. 
张楠 ;
符雅丽 ;
柳朋亮 ;
李东三 .
中国专利 :CN120221364A ,2025-06-27
[5]
半导体膜层的刻蚀方法及半导体工艺设备 [P]. 
李海岩 ;
沈涛 ;
董云鹤 .
中国专利 :CN120600631A ,2025-09-05
[6]
刻蚀方法及半导体工艺设备 [P]. 
王昕 ;
吕椰亭 ;
李红志 .
中国专利 :CN117727624A ,2024-03-19
[7]
半导体结构的刻蚀方法及半导体工艺设备 [P]. 
秦凡凯 .
中国专利 :CN120914101A ,2025-11-07
[8]
斜孔刻蚀方法及半导体工艺设备 [P]. 
陈思同 ;
种景 .
中国专利 :CN118431072A ,2024-08-02
[9]
工艺腔室清洁方法、半导体刻蚀方法及半导体工艺设备 [P]. 
都娴 .
中国专利 :CN118969590B ,2025-10-10
[10]
半导体膜层的刻蚀方法及半导体工艺设备 [P]. 
宋超 .
中国专利 :CN120727574A ,2025-09-30