用于检测TSV的寄生电容的测试电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110947268.6

申请日：

2021-08-18

公开(公告)号：

CN114076851B

公开(公告)日：

2024-05-24

发明(设计)人：

眞壁晴空

申请人：

美光科技公司

申请人地址：

美国爱达荷州

IPC主分类号：

G01R27/26

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287

代理人：

王龙

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-24	授权	授权

共 50 条

[1]

用于检测TSV的寄生电容的测试电路 [P].

眞壁晴空 .

中国专利 :CN114076851A ,2022-02-22

[2]

寄生电容的测试电路和测试方法 [P].

孙杰 ;

郁玉玲 ;

王艳辉 .

中国专利 :CN113884853A ,2022-01-04

[3]

寄生电容的测试电路和测试方法 [P].

孙杰 ;

郁玉玲 ;

王艳辉 .

中国专利 :CN113884853B ,2025-03-04

[4]

具有释放寄生电容电路的器件及释放寄生电容电路 [P].

陈波 .

中国专利 :CN117375592A ,2024-01-09

[5]

寄生电容测试结构及寄生电容提取方法 [P].

王斐 ;

商干兵 .

中国专利 :CN118248576A ,2024-06-25

[6]

寄生电容测试方法 [P].

李佳俊 .

中国专利 :CN119291441A ,2025-01-10

[7]

寄生电容检测电路及检测方法 [P].

洪培在 ;

魏闻 ;

何宏伟 .

中国专利 :CN111579877B ,2020-08-25

[8]

寄生电容过载的检测方法 [P].

曹云 .

中国专利 :CN112767992B ,2024-05-17

[9]

寄生电容过载的检测方法 [P].

曹云 .

中国专利 :CN112767992A ,2021-05-07

[10]

寄生电容的测试结构及测试方法 [P].

牛刚 .

中国专利 :CN117727737A ,2024-03-19

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