一种用于辉光放电质谱检测的针状样品的制备方法及其应用

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011317495.2

申请日：

2020-11-20

公开(公告)号：

CN112557496B

公开(公告)日：

2024-03-15

发明(设计)人：

谭秀珍李瑶李江霖邓育宁朱刘

申请人：

安徽中飞科技有限公司

申请人地址：

239000 安徽省滁州市琅琊经济开发区南京路100号

IPC主分类号：

G01N27/64

IPC分类号：

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

颜希文

法律状态：

授权

国省代码：

安徽省安庆市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-15	授权	授权

共 50 条

[11]

一种辉光放电质谱粉末样品制样的方法 [P].

唐永森 ;

李定明 .

中国专利 :CN115586049A ,2023-01-10

[12]

一种辉光放电质谱中镓的检测方法 [P].

姚力军 ;

潘杰 ;

边逸军 ;

王学泽 ;

周童 .

中国专利 :CN111638267A ,2020-09-08

[13]

一种辉光放电质谱中镓的检测方法 [P].

姚力军 ;

潘杰 ;

边逸军 ;

王学泽 ;

周童 .

中国专利 :CN111638267B ,2024-05-14

[14]

一种辉光放电质谱检测高纯银样品的制样方法 [P].

姚力军 ;

边逸军 ;

潘杰 ;

王学泽 ;

张梁 .

中国专利 :CN111964997A ,2020-11-20

[15]

一种用于辉光放电质谱检测的高纯铟样品的测前处理方法 [P].

杨斌 ;

赵晋阳 ;

徐宝强 ;

刘大春 ;

杨红卫 ;

陈秀敏 ;

郁青春 ;

王飞 ;

戴永年 ;

杨佳 ;

吴鉴 ;

李一夫 ;

蒋文龙 ;

田阳 ;

熊恒 ;

曲涛 .

中国专利 :CN110542604B ,2019-12-06

[16]

用于ELEMENT GD辉光放电质谱检测的少量易碎样品的测前处理方法 [P].

杨斌 ;

赵晋阳 ;

徐宝强 ;

陈秀敏 ;

杨红卫 ;

吴鉴 ;

蒋文龙 ;

孔令鑫 ;

刘红武 ;

段梦平 .

中国专利 :CN114112602A ,2022-03-01

[17]

一种钨镍粉末的辉光放电质谱检测方法 [P].

姚力军 ;

边逸军 ;

潘杰 ;

王学泽 ;

郝海天 ;

钟伟华 .

中国专利 :CN113109419A ,2021-07-13

[18]

辉光放电系统以及使用其的辉光放电质谱装置 [P].

高桥孝广 .

中国专利 :CN109192649B ,2019-01-11

[19]

一种辉光放电质谱钛粉末的制样方法和检测方法 [P].

姚力军 ;

任聪聪 ;

王学泽 .

中国专利 :CN119334731A ,2025-01-21

[20]

一种辉光放电质谱检测铝样品中碳含量的制样方法及检测方法 [P].

姚力军 ;

潘杰 ;

任聪聪 ;

钟伟华 .

中国专利 :CN118706565A ,2024-09-27

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