缺陷检查装置、缺陷检查方法以及预测模型生成方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202280051969.4

申请日：

2022-08-01

公开(公告)号：

CN117795321A

公开(公告)日：

2024-03-29

发明(设计)人：

冈崎元树

申请人：

株式会社F.C.C.

申请人地址：

日本国静冈县

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G06T7/00 G06V10/764 G06V10/774 G06V10/82

代理机构：

上海音科专利商标代理有限公司 31267

代理人：

姜永平

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-29	公开	公开
2024-06-07	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20220801

共 50 条

[1]

图像生成装置、缺陷检查装置以及缺陷检查方法 [P].

尾崎麻耶 .

中国专利 :CN104919305B ,2015-09-16

[2]

图像生成装置、缺陷检查装置以及缺陷检查方法 [P].

尾崎麻耶 .

中国专利 :CN104956210B ,2015-09-30

[3]

图像生成装置、缺陷检查装置以及缺陷检查方法 [P].

尾崎麻耶 .

中国专利 :CN104919306A ,2015-09-16

[4]

缺陷检查方法以及缺陷检查装置 [P].

高木裕治 ;

原田实 ;

坂本雅史 ;

平井大博 .

中国专利 :CN105026883B ,2015-11-04

[5]

缺陷检查装置以及缺陷检查方法 [P].

川岛裕史 ;

上田高敬 ;

江草稔 ;

境纪和 ;

锦户良太 .

中国专利 :CN110621988A ,2019-12-27

[6]

缺陷检查方法以及缺陷检查装置 [P].

长谷川正树 ;

小贯胜则 ;

兼冈则幸 ;

村越久弥 ;

尾方智彦 .

中国专利 :CN108603850B ,2018-09-28

[7]

缺陷检查装置以及缺陷检查方法 [P].

尾崎麻耶 .

中国专利 :CN104583761B ,2015-04-29

[8]

缺陷检查装置以及缺陷检查方法 [P].

小林康彦 ;

关高辉 ;

藤冈恭弘 ;

今泉贵正 .

日本专利 :CN118974549A ,2024-11-15

[9]

缺陷检查方法以及缺陷检查装置 [P].

藏所启一 ;

铃木孝治 .

中国专利 :CN101620190A ,2010-01-06

[10]

缺陷检查装置缺陷检查方法 [P].

冈部浩史 ;

金谷义宏 ;

松本俊彦 .

中国专利 :CN101034069A ,2007-09-12

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