缺陷检查装置以及缺陷检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202380029625.8

申请日：

2023-06-07

公开(公告)号：

CN118974549A

公开(公告)日：

2024-11-15

发明(设计)人：

小林康彦关高辉藤冈恭弘今泉贵正

申请人：

日立安斯泰莫株式会社

申请人地址：

日本茨城县

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G06T7/00

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

宋巧苓

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20230607
2024-11-15	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检查方法以及缺陷检查装置 [P].

高木裕治 ;

原田实 ;

坂本雅史 ;

平井大博 .

中国专利 :CN105026883B ,2015-11-04

[2]

缺陷检查装置以及缺陷检查方法 [P].

川岛裕史 ;

上田高敬 ;

江草稔 ;

境纪和 ;

锦户良太 .

中国专利 :CN110621988A ,2019-12-27

[3]

缺陷检查方法以及缺陷检查装置 [P].

长谷川正树 ;

小贯胜则 ;

兼冈则幸 ;

村越久弥 ;

尾方智彦 .

中国专利 :CN108603850B ,2018-09-28

[4]

缺陷检查装置以及缺陷检查方法 [P].

尾崎麻耶 .

中国专利 :CN104583761B ,2015-04-29

[5]

缺陷检查方法以及缺陷检查装置 [P].

藏所启一 ;

铃木孝治 .

中国专利 :CN101620190A ,2010-01-06

[6]

缺陷检查装置缺陷检查方法 [P].

冈部浩史 ;

金谷义宏 ;

松本俊彦 .

中国专利 :CN101034069A ,2007-09-12

[7]

缺陷检查装置、缺陷检查方法以及存储介质 [P].

森谷章 .

日本专利 :CN117405679A ,2024-01-16

[8]

图像生成装置、缺陷检查装置以及缺陷检查方法 [P].

尾崎麻耶 .

中国专利 :CN104919305B ,2015-09-16

[9]

图像生成装置、缺陷检查装置以及缺陷检查方法 [P].

尾崎麻耶 .

中国专利 :CN104956210B ,2015-09-30

[10]

图像生成装置、缺陷检查装置以及缺陷检查方法 [P].

尾崎麻耶 .

中国专利 :CN104919306A ,2015-09-16

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