一种芯片SDK接口的测试方法、测试装置及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311484328.0

申请日：

2023-11-09

公开(公告)号：

CN117215966B

公开(公告)日：

2024-02-02

发明(设计)人：

请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名

申请人：

成都爱旗科技有限公司

申请人地址：

610000 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区天华二路219号C12栋17层

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

代理机构：

北京知迪知识产权代理有限公司 11628

代理人：

王胜利

法律状态：

专利权质押登记、变更及注销

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-06	专利权质押登记、变更及注销	专利权质押登记IPC(主分类):G06F 11/36登记号:Y2025980014360登记日:20250418出质人:成都爱旗科技有限公司质权人:成都中小企业融资担保有限责任公司发明名称:一种芯片SDK接口的测试方法、测试装置及电子设备申请日:20231109授权公告日:20240202
2024-02-02	授权	授权

共 50 条

[1]

测试方法、测试装置、芯片和电子设备 [P].

严铠锋 ;

贾六伟 .

中国专利 :CN120629884A ,2025-09-12

[2]

接口测试方法、接口测试装置、电子设备及存储介质 [P].

程学峰 ;

龚春燕 ;

徐志成 .

中国专利 :CN109446071A ,2019-03-08

[3]

一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P].

徐廷宁 ;

王培吉 ;

娄骏彬 ;

鹿业波 ;

何亦昕 ;

章天雨 .

中国专利 :CN119395510A ,2025-02-07

[4]

一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P].

徐廷宁 ;

王培吉 ;

娄骏彬 ;

鹿业波 ;

何亦昕 ;

章天雨 .

中国专利 :CN119395510B ,2025-07-04

[5]

一种CSP芯片测试用的探针测试装置及CSP芯片测试设备 [P].

孙名瑞 ;

朱剑飞 ;

何琦 .

中国专利 :CN220509084U ,2024-02-20

[6]

芯片测试方法、装置及电子设备 [P].

张君宇 ;

刘璟 ;

吕杭炳 ;

张锋 ;

刘明 .

中国专利 :CN110441667A ,2019-11-12

[7]

接口测试方法、接口测试装置和电子设备 [P].

邢旺 ;

熊斯衍 ;

刘任 .

中国专利 :CN106909481B ,2017-06-30

[8]

芯片验证测试方法、芯片测试装置、电子设备及存储介质 [P].

黄周晨 ;

孙海晶 ;

陈波 .

中国专利 :CN119621446A ,2025-03-14

[9]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN119003257A ,2024-11-22

[10]

接口测试方法、接口测试装置、电子设备及存储介质 [P].

陈宇 ;

张绪强 ;

兰艳 ;

白鑫贝 ;

王耀威 ;

郑清芳 ;

熊雪菲 ;

袁锦宇 .

中国专利 :CN121029586A ,2025-11-28

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