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OPC模型仿真方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110817797.4
申请日
:
2021-07-20
公开(公告)号
:
CN113591290B
公开(公告)日
:
2024-02-06
发明(设计)人
:
金晓亮
申请人
:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
IPC主分类号
:
G06F30/20
IPC分类号
:
G06F111/06
G06F111/10
代理机构
:
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
:
郭四华
法律状态
:
授权
国省代码
:
上海市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-02-06
授权
授权
共 50 条
[1]
OPC模型仿真方法
[P].
金晓亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金晓亮
.
中国专利
:CN113591290A
,2021-11-02
[2]
建立OPC模型的方法
[P].
敖振宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
敖振宇
;
曾鼎程
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
曾鼎程
.
中国专利
:CN115202147B
,2025-07-25
[3]
OPC模型优化方法
[P].
俞海滨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
俞海滨
;
魏娟
论文数:
0
引用数:
0
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0
魏娟
;
于世瑞
论文数:
0
引用数:
0
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0
于世瑞
.
中国专利
:CN114077156A
,2022-02-22
[4]
OPC模型优化方法
[P].
俞海滨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
俞海滨
;
魏娟
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
魏娟
;
于世瑞
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
于世瑞
.
中国专利
:CN114077156B
,2025-07-22
[5]
光学模型的参数选取方法、OPC光学模型、OPC方法
[P].
周娴
论文数:
0
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0
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0
机构:
重庆芯联微电子有限公司
重庆芯联微电子有限公司
周娴
;
敖振宇
论文数:
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0
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0
机构:
重庆芯联微电子有限公司
重庆芯联微电子有限公司
敖振宇
;
陈咏翔
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机构:
重庆芯联微电子有限公司
重庆芯联微电子有限公司
陈咏翔
;
曾鼎程
论文数:
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机构:
重庆芯联微电子有限公司
重庆芯联微电子有限公司
曾鼎程
;
范富杰
论文数:
0
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机构:
重庆芯联微电子有限公司
重庆芯联微电子有限公司
范富杰
;
胡展源
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
重庆芯联微电子有限公司
重庆芯联微电子有限公司
胡展源
.
中国专利
:CN121142916A
,2025-12-16
[6]
基于面积的OPC模型校准方法
[P].
王良
论文数:
0
引用数:
0
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0
王良
.
中国专利
:CN104698761B
,2015-06-10
[7]
OPC模型的建模方法
[P].
左凯
论文数:
0
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0
机构:
荣芯半导体(宁波)有限公司
荣芯半导体(宁波)有限公司
左凯
.
中国专利
:CN120406040A
,2025-08-01
[8]
OPC模型数据收集方法、数据收集系统及OPC模型优化方法
[P].
张昆
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
张昆
;
张雷
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
张雷
.
中国专利
:CN114488680B
,2025-08-08
[9]
OPC模型数据收集方法、数据收集系统及OPC模型优化方法
[P].
张昆
论文数:
0
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0
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0
张昆
;
张雷
论文数:
0
引用数:
0
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0
张雷
.
中国专利
:CN114488680A
,2022-05-13
[10]
OPC修正模型的建模方法及OPC修正方法
[P].
王雷
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
王雷
.
中国专利
:CN120370632A
,2025-07-25
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