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光学模型的参数选取方法、OPC光学模型、OPC方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202511464772.5
申请日
:
2025-10-14
公开(公告)号
:
CN121142916A
公开(公告)日
:
2025-12-16
发明(设计)人
:
周娴
敖振宇
陈咏翔
曾鼎程
范富杰
胡展源
申请人
:
重庆芯联微电子有限公司
申请人地址
:
401332 重庆市沙坪坝区高新区西永街道西永大道28-2号SOHO楼601-A153
IPC主分类号
:
G03F7/20
IPC分类号
:
代理机构
:
上海思捷知识产权代理有限公司 31295
代理人
:
赖华东
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-12-16
公开
公开
共 50 条
[1]
OPC模型优化方法
[P].
俞海滨
论文数:
0
引用数:
0
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0
俞海滨
;
魏娟
论文数:
0
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0
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魏娟
;
于世瑞
论文数:
0
引用数:
0
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于世瑞
.
中国专利
:CN114077156A
,2022-02-22
[2]
OPC模型优化方法
[P].
俞海滨
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
俞海滨
;
魏娟
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
魏娟
;
于世瑞
论文数:
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0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
于世瑞
.
中国专利
:CN114077156B
,2025-07-22
[3]
建立OPC模型的方法
[P].
敖振宇
论文数:
0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
敖振宇
;
曾鼎程
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
曾鼎程
.
中国专利
:CN115202147B
,2025-07-25
[4]
OPC模型的建模方法
[P].
左凯
论文数:
0
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0
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0
机构:
荣芯半导体(宁波)有限公司
荣芯半导体(宁波)有限公司
左凯
.
中国专利
:CN120406040A
,2025-08-01
[5]
OPC光学模型筛选方法及其筛选系统
[P].
郑惠锋
论文数:
0
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郑惠锋
;
于世瑞
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0
于世瑞
.
中国专利
:CN110688736A
,2020-01-14
[6]
OPC模型仿真方法
[P].
金晓亮
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
金晓亮
.
中国专利
:CN113591290B
,2024-02-06
[7]
OPC模型仿真方法
[P].
金晓亮
论文数:
0
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0
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0
金晓亮
.
中国专利
:CN113591290A
,2021-11-02
[8]
OPC模型数据收集方法、数据收集系统及OPC模型优化方法
[P].
张昆
论文数:
0
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0
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机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
张昆
;
张雷
论文数:
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0
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机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
张雷
.
中国专利
:CN114488680B
,2025-08-08
[9]
OPC模型的量化评估方法
[P].
伍思昕
论文数:
0
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机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
伍思昕
;
杨颖玥
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机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
杨颖玥
;
李玉莹
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0
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0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
李玉莹
.
中国专利
:CN119882360B
,2025-09-30
[10]
OPC模型的量化评估方法
[P].
伍思昕
论文数:
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机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
伍思昕
;
杨颖玥
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0
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机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
杨颖玥
;
李玉莹
论文数:
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机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
李玉莹
.
中国专利
:CN119882360A
,2025-04-25
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