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一种多视角缺陷检测方法及缺陷检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202211402104.6
申请日
:
2022-11-09
公开(公告)号
:
CN118014925A
公开(公告)日
:
2024-05-10
发明(设计)人
:
潘玲佼
胡德荣
陶为戈
肖淑艳
王永星
吴全玉
程钦
万继尧
申请人
:
江苏理工学院
申请人地址
:
213001 江苏省常州市中吴大道1801号
IPC主分类号
:
G06T7/00
IPC分类号
:
G06T7/62
G06T7/70
G06T5/70
G06T5/73
G06T5/80
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
公开
国省代码
:
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-05-10
公开
公开
2024-05-28
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20221109
共 50 条
[1]
缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
梅红伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
梅红伟
;
涂彦昕
论文数:
0
引用数:
0
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0
涂彦昕
;
胡伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
胡伟
;
刘健犇
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘健犇
;
刘立帅
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘立帅
;
王黎明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王黎明
.
中国专利
:CN110031511B
,2019-07-19
[2]
缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
张勤
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州凌云光工业智能技术有限公司
苏州凌云光工业智能技术有限公司
张勤
;
付翔宇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州凌云光工业智能技术有限公司
苏州凌云光工业智能技术有限公司
付翔宇
;
李国军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州凌云光工业智能技术有限公司
苏州凌云光工业智能技术有限公司
李国军
.
中国专利
:CN117949458A
,2024-04-30
[3]
缺陷检测装置及缺陷检测方法
[P].
久利龙平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
久利龙平
.
中国专利
:CN111323423A
,2020-06-23
[4]
缺陷检测装置及缺陷检测方法
[P].
山崎隆一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
山崎隆一
.
中国专利
:CN101600957A
,2009-12-09
[5]
缺陷检测装置及缺陷检测方法
[P].
久利龙平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
精工爱普生株式会社
精工爱普生株式会社
久利龙平
.
日本专利
:CN111323423B
,2024-01-30
[6]
缺陷检测方法及缺陷检测装置
[P].
杨学红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨学红
.
中国专利
:CN109726131B
,2019-05-07
[7]
缺陷检测方法及缺陷检测装置
[P].
高志豪
论文数:
0
引用数:
0
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0
高志豪
;
邓亦书
论文数:
0
引用数:
0
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0
邓亦书
.
中国专利
:CN104914106A
,2015-09-16
[8]
缺陷检测装置及缺陷检测方法
[P].
林彬
论文数:
0
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0
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0
林彬
;
于大维
论文数:
0
引用数:
0
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0
于大维
;
张凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张凯
.
中国专利
:CN115541584A
,2022-12-30
[9]
一种缺陷检测装置及缺陷检测方法
[P].
杨朝兴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
杨朝兴
.
中国专利
:CN117288757B
,2024-08-13
[10]
一种缺陷检测方法及缺陷检测装置
[P].
赵伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
赵伟
;
苏启雄
论文数:
0
引用数:
0
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0
苏启雄
;
林映庭
论文数:
0
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0
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林映庭
;
杨小冬
论文数:
0
引用数:
0
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0
杨小冬
.
中国专利
:CN112577959A
,2021-03-30
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