测试方法、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211400059.0
申请日
2022-11-09
公开(公告)号
CN115729812B
公开(公告)日
2024-04-23
发明(设计)人
靳铃花 潘佳炜 刘云 梁文艳 李辉 宋文明
申请人
广州汽车集团股份有限公司
申请人地址
510030 广东省广州市越秀区东风中路448--458号成悦大厦23楼
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
代理机构
深圳市智圈知识产权代理事务所(普通合伙) 44351
代理人
吴晓青
法律状态
授权
国省代码
广东省 广州市
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共 50 条
[1]
测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
万志强 .
中国专利 :CN119739618A ,2025-04-01
[2]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
高腾远 ;
薛品龙 ;
王跃辉 ;
李洋 ;
赵印凯 ;
周毅 .
中国专利 :CN119718790A ,2025-03-28
[3]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
段萌 .
中国专利 :CN114328231A ,2022-04-12
[4]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张珂汇 .
中国专利 :CN120723640A ,2025-09-30
[5]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
邵洁 .
中国专利 :CN120412547A ,2025-08-01
[6]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
吴磊 .
中国专利 :CN110825631A ,2020-02-21
[7]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
卞国强 .
中国专利 :CN119696738A ,2025-03-25
[8]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘毅 ;
许超 .
中国专利 :CN113742198A ,2021-12-03
[9]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
段萌 .
中国专利 :CN114328231B ,2024-10-22
[10]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郝丹 .
中国专利 :CN119046160A ,2024-11-29