应用程序GUI测试方法、系统、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311524483.0
申请日
2023-11-15
公开(公告)号
CN117453563A
公开(公告)日
2024-01-26
发明(设计)人
陈敏刚 胡瑞 陈文捷 马泽宇 胡芸 沈颖 宋巍 陈达丽
申请人
上海计算机软件技术开发中心
申请人地址
201112 上海市闵行区联航路1588号技术中心楼3楼
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
G06V10/764
代理机构
北京高沃律师事务所 11569
代理人
杜阳阳
法律状态
公开
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
应用程序的GUI测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
林晓升 .
中国专利 :CN119512910A ,2025-02-25
[2]
应用程序测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
李华西 ;
李明亮 .
中国专利 :CN113986724A ,2022-01-28
[3]
应用程序测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
刘梅 ;
郭小溪 .
中国专利 :CN110032507B ,2019-07-19
[4]
应用程序测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
刘伟杰 .
中国专利 :CN109614311A ,2019-04-12
[5]
应用程序测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
江佳宇 ;
蒋剑琴 ;
赵东 ;
黄小刚 .
中国专利 :CN114064450A ,2022-02-18
[6]
应用程序测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
林淙源 ;
李佩 ;
杨闯 .
中国专利 :CN109582579B ,2019-04-05
[7]
应用程序测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张伯玉 ;
杨爽 ;
周硕琦 ;
张薇 ;
李毅 .
中国专利 :CN119782139A ,2025-04-08
[8]
应用程序监控方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
李琴 .
中国专利 :CN117632639A ,2024-03-01
[9]
应用程序调试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
陈亮 ;
钱建安 ;
江涛 ;
张瑛 .
中国专利 :CN119862109A ,2025-04-22
[10]
应用程序的测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
田聪 ;
汤玉民 .
中国专利 :CN114265777A ,2022-04-01