測定構造体、その製造方法、および、それを用いた測定方法[ja]

被引:0
申请号
JP20130507053
申请日
2011-11-28
公开(公告)号
JPWO2012132111A1
公开(公告)日
2014-07-24
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N21/01
IPC分类号
G01N21/3581 G01N21/3586
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
空隙配置構造体およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5967201B2 ,2016-08-10
[2]
空隙配置構造体およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2014156670A1 ,2017-02-16
[3]
空隙配置構造体およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2014017266A1 ,2016-07-07
[4]
空隙配置構造体およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5991426B2 ,2016-09-14
[5]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
KANAI KENJIRO .
日本专利 :JP2022079608A ,2022-05-26
[6]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7259112B2 ,2023-04-17
[7]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7611287B2 ,2025-01-09
[8]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7051533B2 ,2022-04-11
[10]
内径測定装置およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7077098B2 ,2022-05-30