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下地基板及びその製造方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20210508697
申请日
:
2019-09-30
公开(公告)号
:
JP7159450B2
公开(公告)日
:
2022-10-24
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
C30B29/16
IPC分类号
:
C30B25/18
H01L21/20
H01L21/205
H01L21/368
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[21]
基板製造方法及び基板製造装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013008590A1
,2015-02-23
[22]
下地基板及び単結晶ダイヤモンド積層基板並びにそれらの製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025175289A
,2025-12-01
[23]
積層基板、積層基板の製造方法及び自立基板の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022093409A
,2022-06-23
[24]
積層構造体、半導体装置及び下地基板[ja]
[P].
WATABE TAKENORI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SHINETSU CHEMICAL CO
SHINETSU CHEMICAL CO
WATABE TAKENORI
;
HASHIGAMI HIROSHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SHINETSU CHEMICAL CO
SHINETSU CHEMICAL CO
HASHIGAMI HIROSHI
;
SAKAZUME TAKAHIRO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SHINETSU CHEMICAL CO
SHINETSU CHEMICAL CO
SAKAZUME TAKAHIRO
.
日本专利
:JP2025102965A
,2025-07-08
[25]
半導体基板の製造方法及び素子構造の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2007072984A1
,2009-06-04
[26]
ダイヤモンド製膜用下地基板及びそれを用いたダイヤモンド基板の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7078947B2
,2022-06-01
[27]
ダイヤモンド製膜用下地基板及びそれを用いたダイヤモンド基板の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7298832B2
,2023-06-27
[28]
ダイヤモンド製膜用下地基板及びそれを用いたダイヤモンド基板の製造方法[ja]
[P].
NOGUCHI HITOSHI
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
SHINETSU CHEMICAL CO
NOGUCHI HITOSHI
;
MAKINO TOSHIHARU
论文数:
0
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0
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0
机构:
SHINETSU CHEMICAL CO
MAKINO TOSHIHARU
;
OGURA MASAHIKO
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
SHINETSU CHEMICAL CO
OGURA MASAHIKO
;
KATO HIROMITSU
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
SHINETSU CHEMICAL CO
KATO HIROMITSU
;
KAWASHIMA HIROYUKI
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
SHINETSU CHEMICAL CO
KAWASHIMA HIROYUKI
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
YAMAZAKI SATOSHI
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
TOKUDA NORIO
.
日本专利
:JP2022109306A
,2022-07-27
[29]
TFTアレイ基板及びその製造方法、表示装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2019511831A
,2019-04-25
[30]
表示基板及びその製造方法、並びに表示パネル[ja]
[P].
日本专利
:JP2021531610A
,2021-11-18
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