半導体積層体及び結晶性金属酸化物半導体膜[ja]

被引:0
申请号
JP20220021858
申请日
2022-02-16
公开(公告)号
JP2022070975A
公开(公告)日
2022-05-13
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01L29/872
IPC分类号
C30B25/02 C30B29/16 H01L21/205 H01L29/12 H01L29/47 H01L29/739 H01L29/78
代理机构
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共 50 条
[1]
結晶性酸化物半導体膜、半導体装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7016489B2 ,2022-02-07
[2]
結晶性酸化物半導体膜、半導体装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6876895B2 ,2021-05-26
[3]
結晶性酸化物半導体膜、半導体装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6980183B2 ,2021-12-15
[4]
酸化物半導体積層膜及び半導体装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5980737B2 ,2016-08-31
[5]
結晶性酸化物膜、積層構造体及び半導体装置[ja] [P]. 
WATABE TAKENORI ;
HASHIGAMI HIROSHI ;
SAKAZUME TAKAHIRO ;
UNO KAZUYUKI .
日本专利 :JP2022088406A ,2022-06-14
[6]
結晶性酸化物半導体膜および半導体装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2018084304A1 ,2019-11-07
[7]
結晶性酸化物半導体膜および半導体装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP2022172066A ,2022-11-15
[8]
結晶性酸化物半導体膜および半導体装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6994181B2 ,2022-02-04
[9]
結晶性酸化物半導体膜および半導体装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6701472B2 ,2020-05-27
[10]
結晶性酸化物半導体膜および半導体装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7358718B2 ,2023-10-11