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半導体積層体及び結晶性金属酸化物半導体膜[ja]
被引:0
申请号
:
JP20220021858
申请日
:
2022-02-16
公开(公告)号
:
JP2022070975A
公开(公告)日
:
2022-05-13
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01L29/872
IPC分类号
:
C30B25/02
C30B29/16
H01L21/205
H01L29/12
H01L29/47
H01L29/739
H01L29/78
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
結晶性酸化物半導体膜、半導体装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7016489B2
,2022-02-07
[2]
結晶性酸化物半導体膜、半導体装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6876895B2
,2021-05-26
[3]
結晶性酸化物半導体膜、半導体装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6980183B2
,2021-12-15
[4]
酸化物半導体積層膜及び半導体装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5980737B2
,2016-08-31
[5]
結晶性酸化物膜、積層構造体及び半導体装置[ja]
[P].
WATABE TAKENORI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SHINETSU CHEMICAL CO
WATABE TAKENORI
;
HASHIGAMI HIROSHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SHINETSU CHEMICAL CO
HASHIGAMI HIROSHI
;
SAKAZUME TAKAHIRO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SHINETSU CHEMICAL CO
SAKAZUME TAKAHIRO
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
UNO KAZUYUKI
.
日本专利
:JP2022088406A
,2022-06-14
[6]
結晶性酸化物半導体膜および半導体装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018084304A1
,2019-11-07
[7]
結晶性酸化物半導体膜および半導体装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2022172066A
,2022-11-15
[8]
結晶性酸化物半導体膜および半導体装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6994181B2
,2022-02-04
[9]
結晶性酸化物半導体膜および半導体装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6701472B2
,2020-05-27
[10]
結晶性酸化物半導体膜および半導体装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7358718B2
,2023-10-11
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