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酸化物膜の成膜方法、半導体装置の製造方法、及び、酸化物膜の成膜装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20190105364
申请日
:
2019-06-05
公开(公告)号
:
JP7212890B2
公开(公告)日
:
2023-01-26
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01L21/365
IPC分类号
:
C23C16/40
H01L21/368
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
酸化物膜の成膜方法、半導体装置の製造方法、及び、酸化物膜の成膜装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7216371B2
,2023-02-01
[2]
酸化物半導体膜の成膜方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6568353B2
,2019-08-28
[3]
酸化物半導体膜の成膜方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7719165B2
,2025-08-05
[4]
成膜装置、成膜方法及び金属酸化物薄膜の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6230184B2
,2017-11-15
[5]
金属酸化膜の成膜装置、金属酸化膜の成膜方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5614558B2
,2014-10-29
[6]
成膜装置、成膜基体の製造方法、半導体膜の製造装置及び半導体膜の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7075525B2
,2022-05-25
[7]
酸化物半導体膜及び酸化物半導体膜の作製方法[ja]
[P].
YAMAZAKI SHUNPEI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
YAMAZAKI SHUNPEI
;
TSUBUKI MASASHI
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
TSUBUKI MASASHI
;
AKIMOTO KENGO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
AKIMOTO KENGO
;
OHARA HIROKI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
OHARA HIROKI
;
HONDA TATSUYA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
HONDA TATSUYA
;
KOMATA TAKASHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
KOMATA TAKASHI
;
NONAKA YUSUKE
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
NONAKA YUSUKE
;
TAKAHASHI MASAHIRO
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
TAKAHASHI MASAHIRO
;
MIYANAGA SHOJI
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB CO LTD
MIYANAGA SHOJI
.
日本专利
:JP2025072563A
,2025-05-09
[8]
金属酸化膜の成膜方法、金属酸化膜および金属酸化膜の成膜装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2010122629A1
,2012-10-22
[9]
金属酸化膜の成膜方法、金属酸化膜および金属酸化膜の成膜装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5652768B2
,2015-01-14
[10]
金属酸化膜の成膜方法、金属酸化膜および金属酸化膜の成膜装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011027425A1
,2013-01-31
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