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基板処理装置、金属部材および半導体装置の製造方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20180533370
申请日
:
2016-08-10
公开(公告)号
:
JPWO2018029819A1
公开(公告)日
:
2019-01-31
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01L21/31
IPC分类号
:
C23C16/455
C23C16/52
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[41]
半導体装置およびその製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2007142010A1
,2009-10-22
[42]
半導体装置およびその製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016084698A1
,2017-09-07
[43]
半導体装置およびその製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014017406A1
,2016-07-11
[44]
半導体装置およびその製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016084700A1
,2017-09-07
[45]
半導体装置およびその製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013115051A1
,2015-05-11
[46]
半導体装置およびその製造方法[ja]
[P].
MAEDA TAKESHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KIOXIA CORP
KIOXIA CORP
MAEDA TAKESHI
;
NODA KOTARO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KIOXIA CORP
KIOXIA CORP
NODA KOTARO
;
FUJII AKISUKE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KIOXIA CORP
KIOXIA CORP
FUJII AKISUKE
.
日本专利
:JP2024127268A
,2024-09-20
[47]
半導体装置の製造方法、基板処理装置及び記録媒体[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014157210A1
,2017-02-16
[48]
半導体基板の洗浄方法、及び半導体基板の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014077370A1
,2017-01-05
[49]
半導体装置、および半導体装置の作製方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020084406A1
,2021-10-28
[50]
半導体装置、および半導体装置の作製方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020115595A1
,2021-12-23
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