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NANDメモリ・アレイ、半導体チャネル材料及び窒素を含むデバイス、並びにNANDメモリ・アレイを形成する方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20200500593
申请日
:
2018-06-21
公开(公告)号
:
JP2020526924A
公开(公告)日
:
2020-08-31
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01L21/336
IPC分类号
:
H01L27/11521
H01L27/11556
H01L27/11568
H01L27/11582
H01L29/788
H01L29/792
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
半導体チャネル材料及び窒素を含む、デバイス及びメモリ・アレイ[ja]
[P].
CHRIS M CARLSON
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MICRON TECHNOLOGY INC
CHRIS M CARLSON
;
LIU HUNG-WEI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MICRON TECHNOLOGY INC
LIU HUNG-WEI
;
LI JIE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MICRON TECHNOLOGY INC
LI JIE
;
DIMITRIOS PAVLOPOULOS
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MICRON TECHNOLOGY INC
DIMITRIOS PAVLOPOULOS
.
日本专利
:JP2022103430A
,2022-07-07
[2]
メモリアレイ及びメモリセルのストリングを含むメモリアレイを形成することに使用される方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023500438A
,2023-01-06
[3]
メモリデバイス及びメモリデバイスを形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023510877A
,2023-03-15
[4]
メモリセルのストリングを含むメモリアレイ、及びメモリセルのストリングを含むメモリアレイを形成することに使用される方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2024543564A
,2024-11-21
[5]
メモリセルのストリングを含むメモリアレイ及びメモリセルのストリングを含むメモリアレイを形成することに使用される方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023527517A
,2023-06-29
[6]
メモリセルのストリングを含むメモリアレイ、及びメモリセルのストリングを含むメモリアレイを形成することに使用される方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2024531173A
,2024-08-29
[7]
メモリセル及びメモリセルアレイ[ja]
[P].
日本专利
:JP2025172973A
,2025-11-26
[8]
メモリアレイおよびメモリアレイの形成において使用される方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022507989A
,2022-01-18
[9]
ピラーベース・メモリ・アレイを有する半導体チップ内での接点形成[ja]
[P].
日本专利
:JP2024542367A
,2024-11-15
[10]
3Dメモリデバイス及び3Dメモリデバイスを形成するための方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022501828A
,2022-01-06
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