光ビームのドリフトを検出するための光学装置および方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20200550746

申请日：

2019-03-25

公开(公告)号：

JP7324220B2

公开(公告)日：

2023-08-09

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G02B13/00

IPC分类号：

B23K26/00 B23K26/04

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法律状态信息

共 50 条

[1]

光ビームのドリフトを検出するための光学装置および方法[ja] [P].

日本专利 :JP2021518582A ,2021-08-02

[2]

２つのオフセットレーザビームを提供するための光学装置及び方法[ja] [P].

日本专利 :JP2021531507A ,2021-11-18

[3]

２つのオフセットレーザビームを提供するための光学装置及び方法[ja] [P].

日本专利 :JP7410121B2 ,2024-01-09

[4]

電磁波ビームを整形するための光学装置およびその使用、ビーム処理装置およびその使用、ならびにビーム処理方法[ja] [P].

THOMAS RATAJ ;

MARKUS STEINLIN ;

SIMON SCHEIDIGER .

日本专利 :JP2022023852A ,2022-02-08

[5]

電磁波ビームを整形するための光学装置およびその使用、ビーム処理装置およびその使用、ならびにビーム処理方法[ja] [P].

日本专利 :JP2021506593A ,2021-02-22

[6]

電磁波ビームを整形するための光学装置およびその使用、ビーム処理装置およびその使用、ならびにビーム処理方法[ja] [P].

日本专利 :JP6992189B2 ,2022-01-13

[7]

光学装置を調整するためのシステムおよび方法[ja] [P].

日本专利 :JP2023533300A ,2023-08-02

[8]

光学装置を調整するためのシステムおよび方法[ja] [P].

日本专利 :JP7504282B2 ,2024-06-21

[9]

光学装置における光線の強度を調整するための方法、および対応する光学装置[ja] [P].

日本专利 :JP7090406B2 ,2022-06-24

[10]

光シート顕微鏡検査のための方法および装置[ja] [P].

日本专利 :JP2017507361A ,2017-03-16

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