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一种存储器测试治具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202322976486.X
申请日
:
2023-11-04
公开(公告)号
:
CN221261963U
公开(公告)日
:
2024-07-02
发明(设计)人
:
韩育新
申请人
:
北京创新领航科技有限公司
申请人地址
:
101200 北京市平谷区东高村镇东高村兴业路55号
IPC主分类号
:
G11C29/56
IPC分类号
:
代理机构
:
广州焜鸿知识产权代理事务所(普通合伙) 44967
代理人
:
胡静
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-07-02
授权
授权
共 50 条
[1]
一种高效的存储器测试制具
[P].
魏巍
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
慧镕电子系统工程股份有限公司
慧镕电子系统工程股份有限公司
魏巍
;
喻耀冰
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0
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0
机构:
慧镕电子系统工程股份有限公司
慧镕电子系统工程股份有限公司
喻耀冰
;
胡珍桂
论文数:
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0
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0
机构:
慧镕电子系统工程股份有限公司
慧镕电子系统工程股份有限公司
胡珍桂
;
李再宝
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
慧镕电子系统工程股份有限公司
慧镕电子系统工程股份有限公司
李再宝
.
中国专利
:CN221884679U
,2024-10-22
[2]
存储器测试制具
[P].
胡烨德
论文数:
0
引用数:
0
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0
胡烨德
;
陈志丰
论文数:
0
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0
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0
陈志丰
.
中国专利
:CN201436662U
,2010-04-07
[3]
一种存储器测试治具、使用方法及排线跳帽
[P].
石德礼
论文数:
0
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0
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0
石德礼
.
中国专利
:CN109545270A
,2019-03-29
[4]
存储器测试板
[P].
孙成思
论文数:
0
引用数:
0
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0
孙成思
;
孙日欣
论文数:
0
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孙日欣
;
刘小刚
论文数:
0
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刘小刚
;
覃云珍
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覃云珍
.
中国专利
:CN213877591U
,2021-08-03
[5]
存储器测试组件
[P].
孙成思
论文数:
0
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孙成思
;
孙日欣
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孙日欣
;
刘小刚
论文数:
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刘小刚
;
温游强
论文数:
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温游强
.
中国专利
:CN214150943U
,2021-09-07
[6]
一种存储器测试系统及存储器测试方法
[P].
王亚冬
论文数:
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机构:
合肥康芯威存储技术有限公司
合肥康芯威存储技术有限公司
王亚冬
;
陈文涛
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机构:
合肥康芯威存储技术有限公司
合肥康芯威存储技术有限公司
陈文涛
.
中国专利
:CN117854581B
,2024-05-24
[7]
一种存储器测试系统及存储器测试方法
[P].
王亚冬
论文数:
0
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0
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机构:
合肥康芯威存储技术有限公司
合肥康芯威存储技术有限公司
王亚冬
;
陈文涛
论文数:
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机构:
合肥康芯威存储技术有限公司
合肥康芯威存储技术有限公司
陈文涛
.
中国专利
:CN117854581A
,2024-04-09
[8]
存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法
[P].
王佳
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
王佳
.
中国专利
:CN114496050B
,2024-12-06
[9]
存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法
[P].
王佳
论文数:
0
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0
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王佳
.
中国专利
:CN114496050A
,2022-05-13
[10]
一种用于存储器芯片安装的定位治具
[P].
郜庆国
论文数:
0
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0
郜庆国
.
中国专利
:CN214054172U
,2021-08-27
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