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一种高效的存储器测试制具

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202421023699.9
申请日：
2024-05-11
公开(公告)号：
CN221884679U
公开(公告)日：
2024-10-22
发明(设计)人：
魏巍 喻耀冰 胡珍桂 李再宝
申请人：
慧镕电子系统工程股份有限公司
申请人地址：
201600 上海市松江区中辰路299号3幢302室
IPC主分类号：
G11C29/56
IPC分类号：
代理机构：
苏州璟融知识产权代理事务所(普通合伙) 32484
代理人：
钱滨滨
法律状态：
专利权质押登记、变更及注销
国省代码：
上海市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-04 专利权质押登记、变更及注销 专利权质押登记IPC(主分类):G11C 29/56登记号:Y2025310000524登记日:20250619出质人:慧镕电子系统工程股份有限公司质权人:上海农村商业银行股份有限公司松江支行实用新型名称:一种高效的存储器测试制具申请日:20240511授权公告日:20241022
2024-10-22 授权 授权
共 50 条
[1]
存储器测试制具 [P]. 
胡烨德 ;
陈志丰 .
中国专利 :CN201436662U ,2010-04-07
[2]
一种存储器测试治具 [P]. 
韩育新 .
中国专利 :CN221261963U ,2024-07-02
[3]
一种存储器测试机 [P]. 
王智慧 .
中国专利 :CN222260531U ,2024-12-27
[4]
一种存储器自动插拔测试装置 [P]. 
石金明 ;
陆海华 ;
孙凌燕 .
中国专利 :CN222319759U ,2025-01-07
[5]
存储器测试板 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘小刚 ;
覃云珍 .
中国专利 :CN213877591U ,2021-08-03
[6]
存储器测试组件 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘小刚 ;
温游强 .
中国专利 :CN214150943U ,2021-09-07
[7]
一种存储器测试系统及存储器测试方法 [P]. 
王亚冬 ;
陈文涛 .
中国专利 :CN117854581B ,2024-05-24
[8]
一种存储器测试系统及存储器测试方法 [P]. 
王亚冬 ;
陈文涛 .
中国专利 :CN117854581A ,2024-04-09
[9]
存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P]. 
王佳 .
中国专利 :CN114496050B ,2024-12-06
[10]
存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P]. 
王佳 .
中国专利 :CN114496050A ,2022-05-13
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