存储器测试制具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200920069940.0

申请日：

2009-04-03

公开(公告)号：

CN201436662U

公开(公告)日：

2010-04-07

发明(设计)人：

胡烨德陈志丰

申请人：

申请人地址：

201114 上海市漕河泾出口加工区浦星路789号

IPC主分类号：

G11C2956

IPC分类号：

H01R3106 H01R2702

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

陈亮

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-04-07	授权	授权
2017-05-24	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101721406571 IPC(主分类):G11C 29/56 专利号:ZL2009200699400 申请日:20090403 授权公告日:20100407 终止日期:20160403

共 50 条

[1]

一种高效的存储器测试制具 [P].

魏巍 ;

喻耀冰 ;

胡珍桂 ;

李再宝 .

中国专利 :CN221884679U ,2024-10-22

[2]

一种存储器测试治具 [P].

韩育新 .

中国专利 :CN221261963U ,2024-07-02

[3]

测试制具 [P].

唐卫华 .

中国专利 :CN208872778U ,2019-05-17

[4]

测试制具 [P].

孙铭毓 ;

陈志丰 .

中国专利 :CN201392383Y ,2010-01-27

[5]

存储器测试板 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘小刚 ;

覃云珍 .

中国专利 :CN213877591U ,2021-08-03

[6]

存储器测试组件 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘小刚 ;

温游强 .

中国专利 :CN214150943U ,2021-09-07

[7]

存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P].

王佳 .

中国专利 :CN114496050B ,2024-12-06

[8]

存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P].

王佳 .

中国专利 :CN114496050A ,2022-05-13

[9]

存储器测试 [P].

P·S·休斯 .

中国专利 :CN101101794A ,2008-01-09

[10]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

张卫华 ;

喻梅 .

中国专利 :CN103093829A ,2013-05-08

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