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测试方法、测试平台及存储介质
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410777385.6
申请日：
2024-06-17
公开(公告)号：
CN118604576A
公开(公告)日：
2024-09-06
发明(设计)人：
林荣威
李龙
申请人：
矽电半导体设备（深圳）股份有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙城工业园3号厂房三楼东区、五楼中西区
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人：
张娈
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
广东省
深圳市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-09-24 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240617 |
| 2024-09-06 | 公开 | 公开 |