回归测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410468901.7

申请日：

2024-04-18

公开(公告)号：

CN118295918A

公开(公告)日：

2024-07-05

发明(设计)人：

吴鹏展史亚文

申请人：

深圳乐信软件技术有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区粤海街道科苑南路3099号中国储能大厦第24层

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

G06F16/36

代理机构：

深圳市沃德知识产权代理事务所(普通合伙) 44347

代理人：

郭梦霞

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-23	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20240418
2024-07-05	公开	公开

共 50 条

[1]

回归测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

杨凤霞 ;

张健 ;

张志宏 ;

王思远 ;

吴海英 ;

蒋宁 .

中国专利 :CN118051418A ,2024-05-17

[2]

插件回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何周勇 .

中国专利 :CN115408251A ,2022-11-29

[3]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张晓明 ;

孟文龙 .

中国专利 :CN114546830A ,2022-05-27

[4]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

高杨 .

中国专利 :CN110083543B ,2019-08-02

[5]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘多嘉 .

中国专利 :CN113391998A ,2021-09-14

[6]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

关记红 ;

牛红梅 .

中国专利 :CN114490365A ,2022-05-13

[7]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

金鑫 .

中国专利 :CN114218069B ,2022-03-22

[8]

回归测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

关记红 ;

牛红梅 .

中国专利 :CN114490365B ,2024-11-08

[9]

回归测试方法、电子设备及存储介质 [P].

钟乐 ;

马玉涛 ;

岳逸飞 .

中国专利 :CN117785699A ,2024-03-29

[10]

回归测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P].

朱鸿儒 ;

魏立明 ;

张茂杰 ;

姜威 ;

张雪娇 .

中国专利 :CN120653540A ,2025-09-16

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