一种电解电容大批量高低温4参数测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202322802309.X
申请日
2023-10-19
公开(公告)号
CN221378157U
公开(公告)日
2024-07-19
发明(设计)人
杨晔 熊焰明
申请人
江苏伊施德创新科技有限公司
申请人地址
214000 江苏省无锡市经济开发区大通路503号内D幢三楼车间东一半及辅房六楼
IPC主分类号
G01R31/26
IPC分类号
代理机构
南京北辰联和知识产权代理有限公司 32350
代理人
王俊
法律状态
授权
国省代码
河北省 衡水市
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共 50 条
[1]
一种电解电容的高低温四参数测试装置 [P]. 
杨晔 .
中国专利 :CN212459896U ,2021-02-02
[2]
大批量换向测试装置 [P]. 
陈永长 ;
廖金堆 ;
周铭雄 ;
谢裕锋 ;
廖韶钏 .
中国专利 :CN214502856U ,2021-10-26
[3]
一种大批量电容的高速测试装置 [P]. 
熊焰明 .
中国专利 :CN217774870U ,2022-11-11
[4]
高低温箱测试装置及高低温测试方法 [P]. 
甘源伟 ;
向艳 ;
袁烨 ;
李静 ;
潘立豹 .
中国专利 :CN106442602A ,2017-02-22
[5]
一种高低温测试装置 [P]. 
高海兵 .
中国专利 :CN221224914U ,2024-06-25
[6]
高低温耐久测试装置 [P]. 
李达 ;
李德劲 ;
周亮 ;
叶子明 .
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[7]
一种电解电容的测试装置 [P]. 
戴金樑 ;
冯芬 ;
娄益丰 ;
张卡飞 .
中国专利 :CN202372593U ,2012-08-08
[8]
芯片高低温测试装置 [P]. 
刘善浩 ;
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顾良波 ;
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[9]
一种高低温热电测试装置 [P]. 
邾根祥 ;
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王亚东 ;
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[10]
一种真空高低温测试装置 [P]. 
贺谭斌 ;
徐宁 ;
董李昌 ;
梁小东 ;
周玲荣 ;
范建华 ;
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张晶 .
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