一种射频集成电路测试装置及测试平台

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111654917.X

申请日：

2021-12-30

公开(公告)号：

CN114280462B

公开(公告)日：

2024-08-23

发明(设计)人：

冯建呈郑永丰闵昆龙杨旸闫丽琴李明军刘延迪刘治超张少帅张洋白晓远王奇之孟旭王梦琪李广振王占选

申请人：

北京航天测控技术有限公司

申请人地址：

100041 北京市石景山区实兴东街3号1-8号楼

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662

代理人：

张娜

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-23	授权	授权

共 50 条

[1]

一种射频集成电路测试装置及测试平台 [P].

冯建呈 ;

郑永丰 ;

闵昆龙 ;

杨旸 ;

闫丽琴 ;

李明军 ;

刘延迪 ;

刘治超 ;

张少帅 ;

张洋 ;

白晓远 ;

王奇之 ;

孟旭 ;

王梦琪 ;

李广振 ;

王占选 .

中国专利 :CN114280462A ,2022-04-05

[2]

集成电路测试座及集成电路测试装置 [P].

程振 ;

李志雄 ;

刘旭 ;

王平 ;

燕祖德 .

中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08

[3]

用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置 [P].

李远 ;

盖晓峰 .

中国专利 :CN222996768U ,2025-06-17

[4]

一种集成电路测试装置 [P].

江耀明 ;

梁文华 ;

廖国洪 ;

廖慧霞 ;

莫嘉 .

中国专利 :CN221726084U ,2024-09-17

[5]

一种集成电路测试装置 [P].

栾海林 ;

吴松青 .

中国专利 :CN210465604U ,2020-05-05

[6]

一种集成电路测试装置 [P].

李燕 .

中国专利 :CN220933133U ,2024-05-10

[7]

集成电路strip测试装置 [P].

沈飞飞 ;

张志伟 ;

刘小飞 ;

苏康宏 ;

韩学森 ;

陈乃溪 .

中国专利 :CN223092030U ,2025-07-11

[8]

一种集成电路的测试装置 [P].

王朝刚 ;

陈达锦 .

中国专利 :CN119689207A ,2025-03-25

[9]

一种集成电路老化测试装置 [P].

赖柱光 ;

赖冬敏 .

中国专利 :CN222994609U ,2025-06-17

[10]

集成电路测试方法及测试装置 [P].

张郑欣 ;

徐帅 ;

郑义 .

中国专利 :CN103954877A ,2014-07-30

← 1 2 3 4 5 →