一种晶圆边缘轮廓检测装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202323207547.2
申请日
2023-11-27
公开(公告)号
CN221376587U
公开(公告)日
2024-07-19
发明(设计)人
方士伟 葛明月 王思维
申请人
星钥(珠海)半导体有限公司
申请人地址
519085 广东省珠海市高新区唐家湾镇湾创路58号5层505室
IPC主分类号
G01B11/24
IPC分类号
H01L21/66
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
柳虹
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种晶圆边缘检测装置及其晶圆检测设备 [P]. 
吴坤 ;
钟小江 .
中国专利 :CN221262342U ,2024-07-02
[2]
一种晶圆边缘检测装置 [P]. 
朱琪 ;
鉏晨涛 ;
钱宝华 .
中国专利 :CN222994350U ,2025-06-17
[3]
晶圆边缘轮廓的检测方法 [P]. 
张岩 ;
刘振洲 ;
王锡铭 ;
赵子强 ;
赵然 ;
陈菲菲 .
中国专利 :CN110940288A ,2020-03-31
[4]
晶圆边缘检测装置 [P]. 
颜博 ;
方剑平 .
中国专利 :CN221102015U ,2024-06-07
[5]
一种晶圆边缘检测装置 [P]. 
王涛 ;
张浩 ;
李伟 ;
刘智超 .
中国专利 :CN222581098U ,2025-03-07
[6]
晶圆边缘刻蚀检测装置 [P]. 
李苗苗 ;
刘佳磊 ;
郭子杨 .
中国专利 :CN221008902U ,2024-05-24
[7]
一种晶圆边缘形态检测装置 [P]. 
戴锦新 ;
张虎近 .
中国专利 :CN223367725U ,2025-09-23
[8]
一种晶圆边缘检测设备 [P]. 
柯武生 ;
王汉波 ;
郭军 .
中国专利 :CN216773184U ,2022-06-17
[9]
晶圆边缘检测装置 [P]. 
林裕勋 ;
杨善 .
中国专利 :CN117855098A ,2024-04-09
[10]
一种晶圆边缘缺陷检测装置 [P]. 
曹棚棚 ;
解海江 ;
何勇 .
中国专利 :CN223362059U ,2025-09-19