晶圆边缘检测装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410032412.7
申请日
2024-01-09
公开(公告)号
CN117855098A
公开(公告)日
2024-04-09
发明(设计)人
林裕勋 杨善
申请人
友达光电股份有限公司
申请人地址
中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行二路1号
IPC主分类号
H01L21/67
IPC分类号
H01L21/66
代理机构
北京市立康律师事务所 11805
代理人
梁挥
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
晶圆边缘检测装置 [P]. 
颜博 ;
方剑平 .
中国专利 :CN221102015U ,2024-06-07
[2]
晶圆边缘刻蚀检测装置 [P]. 
李苗苗 ;
刘佳磊 ;
郭子杨 .
中国专利 :CN221008902U ,2024-05-24
[3]
一种晶圆边缘检测装置及其晶圆检测设备 [P]. 
吴坤 ;
钟小江 .
中国专利 :CN221262342U ,2024-07-02
[4]
一种晶圆边缘检测装置 [P]. 
朱琪 ;
鉏晨涛 ;
钱宝华 .
中国专利 :CN222994350U ,2025-06-17
[5]
一种晶圆边缘检测装置 [P]. 
王涛 ;
张浩 ;
李伟 ;
刘智超 .
中国专利 :CN222581098U ,2025-03-07
[6]
用于边缘检测的测试晶圆及晶圆边缘检测方法 [P]. 
庄燕萍 .
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[7]
一种晶圆边缘轮廓检测装置 [P]. 
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葛明月 ;
王思维 .
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[8]
一种晶圆边缘缺陷检测装置 [P]. 
曹棚棚 ;
解海江 ;
何勇 .
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[9]
一种晶圆边缘形态检测装置 [P]. 
戴锦新 ;
张虎近 .
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[10]
一种晶圆边缘检测方法及检测装置 [P]. 
姚宏兵 ;
陈锟 ;
张巍 .
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