学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
晶圆边缘检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410032412.7
申请日
:
2024-01-09
公开(公告)号
:
CN117855098A
公开(公告)日
:
2024-04-09
发明(设计)人
:
林裕勋
杨善
申请人
:
友达光电股份有限公司
申请人地址
:
中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行二路1号
IPC主分类号
:
H01L21/67
IPC分类号
:
H01L21/66
代理机构
:
北京市立康律师事务所 11805
代理人
:
梁挥
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-04-26
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/67申请日:20240109
2024-04-09
公开
公开
共 50 条
[1]
晶圆边缘检测装置
[P].
颜博
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州新尚思自动化设备有限公司
苏州新尚思自动化设备有限公司
颜博
;
方剑平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州新尚思自动化设备有限公司
苏州新尚思自动化设备有限公司
方剑平
.
中国专利
:CN221102015U
,2024-06-07
[2]
晶圆边缘刻蚀检测装置
[P].
李苗苗
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
李苗苗
;
刘佳磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
刘佳磊
;
郭子杨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
郭子杨
.
中国专利
:CN221008902U
,2024-05-24
[3]
一种晶圆边缘检测装置及其晶圆检测设备
[P].
吴坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
吴坤
;
钟小江
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
钟小江
.
中国专利
:CN221262342U
,2024-07-02
[4]
一种晶圆边缘检测装置
[P].
朱琪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江埃纳检测技术有限公司
浙江埃纳检测技术有限公司
朱琪
;
鉏晨涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江埃纳检测技术有限公司
浙江埃纳检测技术有限公司
鉏晨涛
;
钱宝华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江埃纳检测技术有限公司
浙江埃纳检测技术有限公司
钱宝华
.
中国专利
:CN222994350U
,2025-06-17
[5]
一种晶圆边缘检测装置
[P].
王涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州佳智彩光电科技有限公司
苏州佳智彩光电科技有限公司
王涛
;
张浩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州佳智彩光电科技有限公司
苏州佳智彩光电科技有限公司
张浩
;
李伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州佳智彩光电科技有限公司
苏州佳智彩光电科技有限公司
李伟
;
刘智超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州佳智彩光电科技有限公司
苏州佳智彩光电科技有限公司
刘智超
.
中国专利
:CN222581098U
,2025-03-07
[6]
用于边缘检测的测试晶圆及晶圆边缘检测方法
[P].
庄燕萍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
庄燕萍
.
中国专利
:CN101750038A
,2010-06-23
[7]
一种晶圆边缘轮廓检测装置
[P].
方士伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
星钥(珠海)半导体有限公司
星钥(珠海)半导体有限公司
方士伟
;
葛明月
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
星钥(珠海)半导体有限公司
星钥(珠海)半导体有限公司
葛明月
;
王思维
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
星钥(珠海)半导体有限公司
星钥(珠海)半导体有限公司
王思维
.
中国专利
:CN221376587U
,2024-07-19
[8]
一种晶圆边缘缺陷检测装置
[P].
曹棚棚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
曹棚棚
;
解海江
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
解海江
;
何勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
何勇
.
中国专利
:CN223362059U
,2025-09-19
[9]
一种晶圆边缘形态检测装置
[P].
戴锦新
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏大摩半导体科技有限公司
江苏大摩半导体科技有限公司
戴锦新
;
张虎近
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏大摩半导体科技有限公司
江苏大摩半导体科技有限公司
张虎近
.
中国专利
:CN223367725U
,2025-09-23
[10]
一种晶圆边缘检测方法及检测装置
[P].
姚宏兵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
格科半导体(上海)有限公司
格科半导体(上海)有限公司
姚宏兵
;
陈锟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
格科半导体(上海)有限公司
格科半导体(上海)有限公司
陈锟
;
张巍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
格科半导体(上海)有限公司
格科半导体(上海)有限公司
张巍
.
中国专利
:CN120954991A
,2025-11-14
←
1
2
3
4
5
→