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一种晶圆边缘检测方法及检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410593373.8
申请日
:
2024-05-13
公开(公告)号
:
CN120954991A
公开(公告)日
:
2025-11-14
发明(设计)人
:
姚宏兵
陈锟
张巍
申请人
:
格科半导体(上海)有限公司
申请人地址
:
201306 上海市浦东新区自由贸易试验区临港新片区新元南路198号
IPC主分类号
:
H01L21/66
IPC分类号
:
代理机构
:
上海元好知识产权代理有限公司 31323
代理人
:
张妍;张静洁
法律状态
:
公开
国省代码
:
上海市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-11-14
公开
公开
2025-12-02
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/66申请日:20240513
共 50 条
[1]
一种晶圆边缘缺陷检测方法及装置
[P].
尚浩天
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
长川科技(苏州)有限公司
长川科技(苏州)有限公司
尚浩天
;
吴强
论文数:
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机构:
长川科技(苏州)有限公司
长川科技(苏州)有限公司
吴强
;
崔可涛
论文数:
0
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机构:
长川科技(苏州)有限公司
长川科技(苏州)有限公司
崔可涛
;
张彩红
论文数:
0
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0
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机构:
长川科技(苏州)有限公司
长川科技(苏州)有限公司
张彩红
;
陈思乡
论文数:
0
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机构:
长川科技(苏州)有限公司
长川科技(苏州)有限公司
陈思乡
.
中国专利
:CN117115130B
,2025-10-10
[2]
用于边缘检测的测试晶圆及晶圆边缘检测方法
[P].
庄燕萍
论文数:
0
引用数:
0
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0
庄燕萍
.
中国专利
:CN101750038A
,2010-06-23
[3]
晶圆边缘检测系统及检测方法
[P].
徐欣
论文数:
0
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0
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机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
徐欣
;
尹光才
论文数:
0
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0
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机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
尹光才
;
田依杉
论文数:
0
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机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
田依杉
;
汪江涛
论文数:
0
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0
机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
汪江涛
;
江周周
论文数:
0
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0
机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
江周周
;
郑教增
论文数:
0
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0
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机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
郑教增
;
张鹏黎
论文数:
0
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机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
张鹏黎
;
孙刚
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
孙刚
.
中国专利
:CN119601487A
,2025-03-11
[4]
晶圆边缘检测装置
[P].
颜博
论文数:
0
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机构:
苏州新尚思自动化设备有限公司
苏州新尚思自动化设备有限公司
颜博
;
方剑平
论文数:
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机构:
苏州新尚思自动化设备有限公司
苏州新尚思自动化设备有限公司
方剑平
.
中国专利
:CN221102015U
,2024-06-07
[5]
晶圆边缘检测装置
[P].
林裕勋
论文数:
0
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0
机构:
友达光电股份有限公司
友达光电股份有限公司
林裕勋
;
杨善
论文数:
0
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0
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0
机构:
友达光电股份有限公司
友达光电股份有限公司
杨善
.
中国专利
:CN117855098A
,2024-04-09
[6]
一种晶圆边缘检测装置及其晶圆检测设备
[P].
吴坤
论文数:
0
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0
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机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
吴坤
;
钟小江
论文数:
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机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
钟小江
.
中国专利
:CN221262342U
,2024-07-02
[7]
一种晶圆边缘检测装置
[P].
朱琪
论文数:
0
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0
机构:
浙江埃纳检测技术有限公司
浙江埃纳检测技术有限公司
朱琪
;
鉏晨涛
论文数:
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机构:
浙江埃纳检测技术有限公司
浙江埃纳检测技术有限公司
鉏晨涛
;
钱宝华
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0
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机构:
浙江埃纳检测技术有限公司
浙江埃纳检测技术有限公司
钱宝华
.
中国专利
:CN222994350U
,2025-06-17
[8]
一种晶圆边缘检测装置
[P].
王涛
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州佳智彩光电科技有限公司
苏州佳智彩光电科技有限公司
王涛
;
张浩
论文数:
0
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机构:
苏州佳智彩光电科技有限公司
苏州佳智彩光电科技有限公司
张浩
;
李伟
论文数:
0
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0
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机构:
苏州佳智彩光电科技有限公司
苏州佳智彩光电科技有限公司
李伟
;
刘智超
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
苏州佳智彩光电科技有限公司
苏州佳智彩光电科技有限公司
刘智超
.
中国专利
:CN222581098U
,2025-03-07
[9]
一种晶圆边缘缺陷检测装置及方法
[P].
郑玉成
论文数:
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0
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0
机构:
上海优睿谱半导体设备有限公司
上海优睿谱半导体设备有限公司
郑玉成
.
中国专利
:CN119470475A
,2025-02-18
[10]
晶圆薄膜检测装置、半导体设备及晶圆薄膜检测方法
[P].
沈钲皓
论文数:
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机构:
青岛海存微电子有限公司
青岛海存微电子有限公司
沈钲皓
;
李卫
论文数:
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机构:
青岛海存微电子有限公司
青岛海存微电子有限公司
李卫
;
蓝鹏程
论文数:
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机构:
青岛海存微电子有限公司
青岛海存微电子有限公司
蓝鹏程
;
刘宏喜
论文数:
0
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0
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机构:
青岛海存微电子有限公司
青岛海存微电子有限公司
刘宏喜
;
王戈飞
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
青岛海存微电子有限公司
青岛海存微电子有限公司
王戈飞
.
中国专利
:CN120870170A
,2025-10-31
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