一种晶圆边缘检测方法及检测装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410593373.8
申请日
2024-05-13
公开(公告)号
CN120954991A
公开(公告)日
2025-11-14
发明(设计)人
姚宏兵 陈锟 张巍
申请人
格科半导体(上海)有限公司
申请人地址
201306 上海市浦东新区自由贸易试验区临港新片区新元南路198号
IPC主分类号
H01L21/66
IPC分类号
代理机构
上海元好知识产权代理有限公司 31323
代理人
张妍;张静洁
法律状态
公开
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
一种晶圆边缘缺陷检测方法及装置 [P]. 
尚浩天 ;
吴强 ;
崔可涛 ;
张彩红 ;
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[2]
用于边缘检测的测试晶圆及晶圆边缘检测方法 [P]. 
庄燕萍 .
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[3]
晶圆边缘检测系统及检测方法 [P]. 
徐欣 ;
尹光才 ;
田依杉 ;
汪江涛 ;
江周周 ;
郑教增 ;
张鹏黎 ;
孙刚 .
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[4]
晶圆边缘检测装置 [P]. 
颜博 ;
方剑平 .
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[5]
晶圆边缘检测装置 [P]. 
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杨善 .
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[6]
一种晶圆边缘检测装置及其晶圆检测设备 [P]. 
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[7]
一种晶圆边缘检测装置 [P]. 
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鉏晨涛 ;
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[8]
一种晶圆边缘检测装置 [P]. 
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[9]
一种晶圆边缘缺陷检测装置及方法 [P]. 
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[10]
晶圆薄膜检测装置、半导体设备及晶圆薄膜检测方法 [P]. 
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李卫 ;
蓝鹏程 ;
刘宏喜 ;
王戈飞 .
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