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金属含有フォトレジストのリワーク[ja]
被引:0
申请号
:
JP20240504920
申请日
:
2022-07-20
公开(公告)号
:
JP2024530605A
公开(公告)日
:
2024-08-23
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01L21/027
IPC分类号
:
G03F7/42
H01L21/302
H01L21/3065
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
有機蒸気によるフォトレジストの現像[ja]
[P].
DICTUS DRIES
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
LAM RES CORP
LAM RES CORP
DICTUS DRIES
;
WU CHENGHAO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
LAM RES CORP
LAM RES CORP
WU CHENGHAO
;
ERIC CALVIN HANSEN
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
LAM RES CORP
LAM RES CORP
ERIC CALVIN HANSEN
;
TIMOTHY WILLIAM WEIDMAN
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
LAM RES CORP
LAM RES CORP
TIMOTHY WILLIAM WEIDMAN
.
日本专利
:JP2025107246A
,2025-07-17
[2]
有機蒸気によるフォトレジストの現像[ja]
[P].
日本专利
:JP2023551893A
,2023-12-13
[3]
フォトマスクペリクル接着剤残留物の除去[ja]
[P].
日本专利
:JP2021529356A
,2021-10-28
[4]
フォトマスクペリクル接着剤残留物の除去[ja]
[P].
日本专利
:JP7155386B2
,2022-10-18
[5]
フォトマスクペリクル接着剤残留物の除去[ja]
[P].
WU BANQIU
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
APPLIED MATERIALS INC
WU BANQIU
;
ELI DAGAN
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
APPLIED MATERIALS INC
ELI DAGAN
.
日本专利
:JP2022189840A
,2022-12-22
[6]
フォトマスクペリクル接着剤残留物の除去[ja]
[P].
日本专利
:JP7524266B2
,2024-07-29
[7]
レジスト層の薄膜化装置[ja]
[P].
日本专利
:JP3208034U
,2016-12-15
[8]
フォトニックデバイスのパターニング方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2024537838A
,2024-10-16
[9]
プリーツ状でテーパー状の螺旋巻きのクロスクロスフィルタエレメント[ja]
[P].
日本专利
:JP2020501894A
,2020-01-23
[10]
クリーニングブレード、プロセスカートリッジ、及び画像形成装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2025002268A
,2025-01-09
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