金属含有フォトレジストのリワーク[ja]

被引:0
申请号
JP20240504920
申请日
2022-07-20
公开(公告)号
JP2024530605A
公开(公告)日
2024-08-23
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01L21/027
IPC分类号
G03F7/42 H01L21/302 H01L21/3065
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
有機蒸気によるフォトレジストの現像[ja] [P]. 
DICTUS DRIES ;
WU CHENGHAO ;
ERIC CALVIN HANSEN ;
TIMOTHY WILLIAM WEIDMAN .
日本专利 :JP2025107246A ,2025-07-17
[2]
有機蒸気によるフォトレジストの現像[ja] [P]. 
日本专利 :JP2023551893A ,2023-12-13
[3]
フォトマスクペリクル接着剤残留物の除去[ja] [P]. 
日本专利 :JP2021529356A ,2021-10-28
[4]
フォトマスクペリクル接着剤残留物の除去[ja] [P]. 
日本专利 :JP7155386B2 ,2022-10-18
[5]
フォトマスクペリクル接着剤残留物の除去[ja] [P]. 
WU BANQIU ;
ELI DAGAN .
日本专利 :JP2022189840A ,2022-12-22
[6]
フォトマスクペリクル接着剤残留物の除去[ja] [P]. 
日本专利 :JP7524266B2 ,2024-07-29
[7]
レジスト層の薄膜化装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP3208034U ,2016-12-15
[8]
フォトニックデバイスのパターニング方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2024537838A ,2024-10-16