晶片和半导体装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410200862.2
申请日
2024-02-23
公开(公告)号
CN119008665A
公开(公告)日
2024-11-22
发明(设计)人
吉田学史 金子龙马 名古肇 彦坂年辉
申请人
株式会社东芝 东芝电子元件及存储装置株式会社
申请人地址
日本
IPC主分类号
H01L29/267
IPC分类号
H01L29/778
代理机构
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
杜丽利
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体晶片和半导体晶片检查方法 [P]. 
柴田馨 ;
冈林真志 ;
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[2]
半导体装置制造方法和半导体晶片 [P]. 
太田祐一 ;
喜多贤太郎 ;
大浦雄大 ;
吉田宏平 .
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[3]
硅晶片和半导体装置 [P]. 
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诹访智之 .
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[4]
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[5]
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[6]
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[7]
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[8]
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[9]
半导体晶片及半导体装置 [P]. 
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堂前佑辅 .
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[10]
半导体装置、半导体晶片与制造半导体晶片的方法 [P]. 
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黄家恩 .
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