一种微小元器件外观缺陷检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411331956.X

申请日：

2024-09-24

公开(公告)号：

CN118858306A

公开(公告)日：

2024-10-29

发明(设计)人：

郑艳文曾胜王飞邓文波李东红

申请人：

珠海市奥德维科技有限公司

申请人地址：

519000 广东省珠海市香洲区福田路10号厂房1一层-5

IPC主分类号：

G01N21/892

IPC分类号：

G01N21/01 B65G29/00 B65G47/91

代理机构：

广州市红荔专利代理有限公司 44214

代理人：

黄国勇

法律状态：

授权

国省代码：

广东省珠海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-17	授权	授权
2024-11-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/892申请日:20240924
2024-10-29	公开	公开

共 50 条

[1]

一种微小元器件外观缺陷检测装置 [P].

郑艳文 ;

曾胜 ;

王飞 ;

邓文波 ;

李东红 .

中国专利 :CN118858306B ,2025-01-17

[2]

电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

顾欣 .

中国专利 :CN203587523U ,2014-05-07

[3]

一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

杨国牛 ;

毛雪 .

中国专利 :CN222013986U ,2024-11-15

[4]

一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

乔磊 ;

陈姗姗 ;

于海瑞 ;

李冬菊 ;

曹丕 .

中国专利 :CN223192917U ,2025-08-05

[5]

一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

韩越 ;

周洲 .

中国专利 :CN207675661U ,2018-07-31

[6]

一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

彭志强 .

中国专利 :CN216954468U ,2022-07-12

[7]

一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置 [P].

荣凤华 ;

李宁宁 .

中国专利 :CN222514544U ,2025-02-21

[8]

微小元器件表面缺陷检测系统 [P].

彭祺 ;

文志斌 ;

陈乐言 ;

屠礼芬 ;

李卫中 ;

郭圆圆 .

中国专利 :CN119757351A ,2025-04-04

[9]

一种电子元器件两面外观缺陷检测装置 [P].

唐浩 ;

李松凌 .

中国专利 :CN211538640U ,2020-09-22

[10]

一种元器件外观检测装置 [P].

张泽 ;

臧春和 ;

谢尚策 ;

秦昆文 .

中国专利 :CN117929262A ,2024-04-26

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