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一种氧化镓MOSFET器件抗单粒子烧毁加固结构及其仿真优化方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410912121.7
申请日
:
2024-07-09
公开(公告)号
:
CN118981841A
公开(公告)日
:
2024-11-19
发明(设计)人
:
曹荣幸
刘涵勋
韩丹
王祖军
丁李利
薛院院
薛玉雄
申请人
:
扬州大学
申请人地址
:
225009 江苏省扬州市大学南路88号
IPC主分类号
:
G06F30/17
IPC分类号
:
H01L29/78
H01L29/24
G06F30/25
G06F30/23
G06T17/20
G06F111/10
G06F119/06
G06F119/02
G06F119/08
G06F113/08
代理机构
:
南京经纬专利商标代理有限公司 32200
代理人
:
唐循文
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
江苏省 扬州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-06
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/17申请日:20240709
2025-09-05
发明专利申请公布后的撤回
发明专利申请公布后的撤回IPC(主分类):G06F 30/17申请公布日:20241119
2024-11-19
公开
公开
共 50 条
[1]
氧化镓MOSFET高压器件抗单粒子效应的加固结构
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
舒磊
;
胡立滨
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机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
胡立滨
;
论文数:
引用数:
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机构:
朱慧平
;
论文数:
引用数:
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机构:
李博
.
中国专利
:CN120565551A
,2025-08-29
[2]
一种功率器件抗单粒子烧毁加固结构以及制备方法
[P].
王颖
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王颖
;
毕建雄
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毕建雄
;
曹菲
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曹菲
;
包梦恬
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包梦恬
;
于成浩
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于成浩
;
李兴冀
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李兴冀
;
杨剑群
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杨剑群
.
中国专利
:CN112951915B
,2021-06-11
[3]
氧化镓MOSFET高压器件抗单粒子效应的加固系统
[P].
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机构:
舒磊
;
胡立滨
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机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
胡立滨
;
论文数:
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机构:
朱慧平
;
论文数:
引用数:
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机构:
李博
.
中国专利
:CN120613336A
,2025-09-09
[4]
一种具有抗单粒子烧毁加固结构的CAVET器件及其制造方法
[P].
魏远
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机构:
海南大学
海南大学
魏远
;
论文数:
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机构:
张孝冬
;
论文数:
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机构:
梁伟
;
论文数:
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机构:
沈重
;
论文数:
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机构:
赵哲
.
中国专利
:CN117855264A
,2024-04-09
[5]
一种基于SIC-VDMOSFET器件的单粒子烧毁加固结构及其制备方法
[P].
秦林生
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机构:
上海精密计量测试研究所
上海精密计量测试研究所
秦林生
;
金森磊
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机构:
上海精密计量测试研究所
上海精密计量测试研究所
金森磊
;
马林东
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上海精密计量测试研究所
上海精密计量测试研究所
马林东
;
王昆黍
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机构:
上海精密计量测试研究所
上海精密计量测试研究所
王昆黍
;
汪波
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机构:
上海精密计量测试研究所
上海精密计量测试研究所
汪波
;
梁晓雯
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上海精密计量测试研究所
上海精密计量测试研究所
梁晓雯
;
孔泽斌
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机构:
上海精密计量测试研究所
上海精密计量测试研究所
孔泽斌
;
刘元
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机构:
上海精密计量测试研究所
上海精密计量测试研究所
刘元
;
琚安安
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上海精密计量测试研究所
上海精密计量测试研究所
琚安安
;
陈凡
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机构:
上海精密计量测试研究所
上海精密计量测试研究所
陈凡
;
祝伟明
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机构:
上海精密计量测试研究所
上海精密计量测试研究所
祝伟明
;
余学峰
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机构:
上海精密计量测试研究所
上海精密计量测试研究所
余学峰
;
郭旗
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机构:
上海精密计量测试研究所
上海精密计量测试研究所
郭旗
.
中国专利
:CN117894818A
,2024-04-16
[6]
一种栅极功率MOSFET抗单粒子烧毁器件半元胞结构
[P].
王颖
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王颖
;
林茂
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林茂
;
于成浩
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于成浩
;
包梦恬
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包梦恬
;
曹菲
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曹菲
.
中国专利
:CN110610995A
,2019-12-24
[7]
一种抗单粒子烧毁的沟槽栅功率MOSFET器件及其制备方法
[P].
王颖
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王颖
;
罗佳豪
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罗佳豪
;
包梦恬
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包梦恬
;
李兴冀
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李兴冀
;
杨剑群
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0
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0
杨剑群
.
中国专利
:CN115566073A
,2023-01-03
[8]
平面栅功率MOSFET抗单粒子烧毁器件及制备方法
[P].
王颖
论文数:
0
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0
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0
王颖
;
罗佳豪
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0
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0
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罗佳豪
;
曹菲
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曹菲
;
李兴冀
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0
李兴冀
;
杨剑群
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0
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0
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0
杨剑群
.
中国专利
:CN115117053A
,2022-09-27
[9]
一种抗单粒子烧毁的加固p-GaN增强型氮化镓器件及其制备方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
郑雪峰
;
蔺丹妹
论文数:
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0
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机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
蔺丹妹
;
论文数:
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机构:
刘凯
;
论文数:
引用数:
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机构:
马晓华
;
论文数:
引用数:
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机构:
郝跃
.
中国专利
:CN121218635A
,2025-12-26
[10]
一种抗单粒子烧毁的功率器件及其制备方法
[P].
刘涛
论文数:
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0
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0
机构:
天狼芯半导体(成都)有限公司
天狼芯半导体(成都)有限公司
刘涛
;
黄汇钦
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机构:
天狼芯半导体(成都)有限公司
天狼芯半导体(成都)有限公司
黄汇钦
.
中国专利
:CN116130521B
,2025-10-10
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