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用于带电粒子工具的带通带电粒子能量过滤检测器
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202280044103.0
申请日
:
2022-10-05
公开(公告)号
:
CN117561586B
公开(公告)日
:
2024-11-15
发明(设计)人
:
蒋友飞
M·施泰格瓦尔德
申请人
:
科磊股份有限公司
申请人地址
:
美国加利福尼亚州
IPC主分类号
:
H01J37/244
IPC分类号
:
H01J37/28
H01J37/147
代理机构
:
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287
代理人
:
刘丽楠
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-11-15
授权
授权
2024-02-13
公开
公开
2024-09-24
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H01J 37/244申请日:20221005
共 50 条
[41]
带电粒子成像系统
[P].
M·菲恩克斯
论文数:
0
引用数:
0
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0
M·菲恩克斯
;
F·兰帕斯伯格
论文数:
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F·兰帕斯伯格
;
S·拉尼奥
论文数:
0
引用数:
0
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S·拉尼奥
.
中国专利
:CN114730683A
,2022-07-08
[42]
用于在带电粒子设备中使用的检测器
[P].
C.S.库伊曼
论文数:
0
引用数:
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0
C.S.库伊曼
;
G.N.A.范维恩
论文数:
0
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0
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0
G.N.A.范维恩
.
中国专利
:CN102866413B
,2013-01-09
[43]
用于高速应用的带电粒子检测器封装
[P].
王勇新
论文数:
0
引用数:
0
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0
王勇新
.
中国专利
:CN114631165A
,2022-06-14
[44]
显微镜的带电粒子检测器
[P].
I·范韦佩伦
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
I·范韦佩伦
.
:CN120019466A
,2025-05-16
[45]
操纵器、操纵器阵列、带电粒子工具、多射束带电粒子工具和带电粒子射束的操纵方法
[P].
L·迪努·古特勒
论文数:
0
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L·迪努·古特勒
;
G·阿克斯诺夫
论文数:
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0
G·阿克斯诺夫
.
中国专利
:CN115702472A
,2023-02-14
[46]
带电粒子光学设备、带电粒子装置及方法
[P].
E·斯洛特
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
E·斯洛特
.
:CN117836892A
,2024-04-05
[47]
带电粒子分析仪以及带电粒子分离方法
[P].
亚历山大·马卡洛夫
论文数:
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亚历山大·马卡洛夫
;
阿娜斯塔赛奥斯·吉安娜卡欧普勒斯
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0
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阿娜斯塔赛奥斯·吉安娜卡欧普勒斯
.
中国专利
:CN102449728A
,2012-05-09
[48]
用于带电粒子加速器的带电粒子处理装置及加速器
[P].
朱志斌
论文数:
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0
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朱志斌
;
崔爱军
论文数:
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崔爱军
.
中国专利
:CN111654968A
,2020-09-11
[49]
带电粒子束装置和检测器
[P].
片根纯一
论文数:
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片根纯一
;
伊东佑博
论文数:
0
引用数:
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0
伊东佑博
.
中国专利
:CN103871811B
,2014-06-18
[50]
检测器组件、带电粒子设备、装置和方法
[P].
M·J-J·维兰德
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
M·J-J·维兰德
.
:CN118266056A
,2024-06-28
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