自动测试方法、装置、电子设备及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410838522.2

申请日：

2024-06-26

公开(公告)号：

CN118860854A

公开(公告)日：

2024-10-29

发明(设计)人：

杨昊李涛俞真龙凌敏峰

申请人：

南京领行科技股份有限公司

申请人地址：

211100 江苏省南京市江宁区苏源大道19号九龙湖国际企业总部园B4栋2层(江宁开发区)

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

代理机构：

北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319

代理人：

苏培华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省南京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20240626
2024-10-29	公开	公开

共 50 条

[1]

设备的自动测试方法、电子设备和存储介质 [P].

陆素素 ;

华要宇 ;

崔学涛 ;

刘仍庆 ;

曹刚强 .

中国专利 :CN120256305A ,2025-07-04

[2]

测试方法、装置、电子设备及介质 [P].

张志文 ;

郭文平 .

中国专利 :CN113836021A ,2021-12-24

[3]

测试方法、装置、电子设备及介质 [P].

张志文 ;

郭文平 .

中国专利 :CN113836021B ,2024-10-08

[4]

自动测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

王萍 .

中国专利 :CN118035020A ,2024-05-14

[5]

自动测试方法、装置及电子设备 [P].

杨晶晶 .

中国专利 :CN111597112A ,2020-08-28

[6]

自动测试方法、自动测试系统、电子设备及可读存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN114297065A ,2022-04-08

[7]

自动测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

龙栋梁 .

中国专利 :CN119739626A ,2025-04-01

[8]

自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

李绪隆 ;

黄明明 ;

杨娟娟 ;

车婷婷 .

中国专利 :CN115061921A ,2022-09-16

[9]

NFC自动测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈龙 .

中国专利 :CN116577971B ,2025-12-09

[10]

自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN112685299A ,2021-04-20

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